[发明专利]样本标注方法及计算机存储介质有效
| 申请号: | 201810134135.5 | 申请日: | 2018-02-09 |
| 公开(公告)号: | CN110135407B | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
| 发明(设计)人: | 兴百桥 | 申请(专利权)人: | 北京世纪好未来教育科技有限公司 |
| 主分类号: | G06K9/20 | 分类号: | G06K9/20;G06K9/34;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人: | 李杰 |
| 地址: | 100086 北京市海淀区中*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 样本 标注 方法 计算机 存储 介质 | ||
1.一种样本标注方法,其特征在于,包括:
通过字符检测模型对待标注的样本图像进行检测,根据检测结果确定用于指示所述样本图像中各个字符的字符位置的字符框;
针对每个字符框,判断当前字符框是否满足以下条件中的至少两个:当前字符框的宽度大于第一预设值,当前字符框的宽高比大于第二预设值,当前字符框中的第一设定像素的数量与第二设定像素的数量的比值大于第三预设值;
若是,则将当前字符框对应的字符标注为分式线,并删除所述分式线对应的字符框;
根据删除后的字符框生成标注文件,并使用所述标注文件和所述样本图像对机器学习模型进行训练。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述判断当前字符框是否满足当前字符框中的第一设定像素的数量与第二设定像素的数量的比值大于第三预设值,包括:
针对各个字符框,获取当前字符框对应的图像中的第一设定像素的像素数量和第二设定像素的像素数量;
确定所述第一设定像素的像素数量与所述第二设定像素的像素数量的比值;
判断所述比值是否大于所述第三预设值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述判断当前字符框是否满足当前字符框中的第一设定像素的数量与第二设定像素的数量的比值大于第三预设值之前,所述方法还包括:
将所述待标注的样本图像转换为黑白二值图像,其中,将黑色像素作为所述第一设定像素,将白色像素作为所述第二设定像素。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述判断当前字符框是否满足当前字符框的宽度大于第一预设值,包括:
根据所有字符框的数量和各个字符框的宽度确定字符框平均宽度;
根据所述字符框平均宽度,判断当前字符框是否满足所述字符框的宽度大于第一预设值。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,根据所述字符框平均宽度,判断当前字符框是否满足所述字符框的宽度大于第一预设值,包括:
根据所述字符框平均宽度和第一预设比例获取所述第一预设值;
判断所述当前字符框是否满足所述字符框的宽度大于第一预设值。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,判断当前字符框是否满足所述字符框的宽高比大于第二预设值,包括:
针对各个所述字符框,获取当前字符框的宽度和高度;
根据所述当前字符框的宽度和高度,确定所述当前字符框的宽高比;
判断所述当前字符框的宽高比是否大于所述第二预设值。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述字符检测模型包括连通域分析模型和/或神经网络检测模型。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,当所述字符检测模型包括连通域分析模型和神经网络检测模型时,所述通过字符检测模型对待标注的样本图像进行检测,根据检测结果确定用于指示所述样本图像中各个字符的字符位置的字符框,包括:
通过连通域分析模型对所述待标注的样本图像进行连通域分析,根据连通域分析结果确定用于指示所述样本图像中各个字符的字符位置的第一候选字符框;
通过神经网络模型对所述待标注的样本图像进行字符检测,根据字符检测结果确定用于指示所述样本图像中各个字符的字符位置的第二候选字符框;
根据所述第一候选字符框、第二候选字符框和预设的字符框取舍规则生成检测结果,根据所述检测结果确定用于指示所述样本图像中各个字符的字符位置的字符框。
9.一种计算机存储介质,其特征在于,所述计算机存储介质存储有:用于通过字符检测模型对待标注的样本图像进行检测,根据检测结果确定用于指示所述样本图像中各个字符的字符位置的字符框的指令;用于针对每个字符框,判断当前字符框是否满足以下条件中的至少两个的指令,其中,以下条件包括:当前字符框的宽度大于第一预设值,当前字符框的宽高比大于第二预设值,当前字符框中的第一设定像素的数量与第二设定像素的数量的比值大于第三预设值;用于当满足至少两个条件时,将当前字符框对应的字符标注为分式线,并删除所述分式线对应的字符框的指令;用于根据删除后的字符框生成标注文件,并使用所述标注文件和所述样本图像对机器学习模型进行训练的指令。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京世纪好未来教育科技有限公司,未经北京世纪好未来教育科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810134135.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





