[发明专利]用于光学测试的可编程光子电子集成电路有效

专利信息
申请号: 201810133659.2 申请日: 2018-02-09
公开(公告)号: CN108418628B 公开(公告)日: 2022-11-08
发明(设计)人: P.李 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: H04B10/079 分类号: H04B10/079
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 周学斌;申屠伟进
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 光学 测试 可编程 光子 电子 集成电路
【权利要求书】:

1.一种用于光学测试的可编程光子电子集成电路,所述可编程光子电子集成电路包括:

光学测试接口单元,其向受测试光学设备发送多个传出数据信道,并且从所述受测试光学设备接收多个传入数据信道;

光学发送器电路,其调制所述多个传出数据信道,并且将所述多个传出数据信道发送到所述光学测试接口单元;

光学接收器电路,其接收和解调来自所述光学测试接口单元的所述多个传出数据信道;

第一系列电路,其将所述多个传出数据信道进行可编程编码和串行化;

第二系列电路,其将所述多个传入数据信道进行解串行化和可编程解码;以及

一个或多个可编程错误率测试器电路,其将来自所述第一系列电路的传出数据与来自所述第二系列电路的传入数据进行比较来确定多个错误率。

2.根据权利要求1所述的可编程光子电子集成电路,其中所述一个或多个可编程错误率测试器电路包括符号错误率测试器电路,并且其中所述符号错误率测试器电路接收来自所述第一系列电路中的发送器电路的第一符号流和来自所述第二系列电路中的接收器电路的第二符号流。

3.根据权利要求1所述的可编程光子电子集成电路,其中所述一个或多个可编程错误率测试器电路包括比特错误率测试器电路,并且其中所述比特错误率测试器电路接收来自所述第一系列电路中的串行化器电路的输入之前的第一数据流,以及来自所述第二系列电路中的解串行化器电路的输出的第二数据流。

4.根据权利要求1所述的可编程光子电子集成电路,其中所述一个或多个可编程错误率测试器电路包括符号错误率测试器,并且其中所述符号错误率测试器电路接收来自所述第一系列电路中的前向纠错编码电路的输出的第一符号流,以及来自所述第二系列电路中的前向纠错解码电路的输入的第二符号流。

5.根据权利要求1所述的可编程光子电子集成电路,其中所述一个或多个可编程错误率测试器电路包括帧错误率测试器电路,并且其中所述帧错误率测试器电路接收来自所述第一系列电路中的物理编码子层编码电路的输出的第一编码数据流,以及来自所述第二系列电路中的物理编码子层解码电路的输入的第二编码数据流。

6.根据权利要求1所述的可编程光子电子集成电路,其中所述一个或多个可编程错误率测试器电路包括比特错误率测试器电路,并且其中所述比特错误率测试器电路接收来自所述第一系列电路的数据开始块的第一数据流,以及来自所述第二系列电路的数据结束块的第二数据流。

7.根据权利要求1所述的可编程光子电子集成电路,进一步包括:

示波电路,用于生成用于眼开图的数据,其中所述示波电路接收来自所述第二系列电路中的接收器电路的传入数据信号。

8.根据权利要求1所述的可编程光子电子集成电路,进一步包括:

示波电路,用于生成用于星座图的数据,其中所述示波电路接收来自所述第二系列电路中的接收器电路的传入数据信号。

9.根据权利要求1所述的可编程光子电子集成电路,进一步包括:

所述第一系列电路中的第一收发器;以及

所述第二系列电路中的第二收发器,

其中所述第一收发器接收来自脉冲幅度调制编码器电路的多个传出数据信道,并且向所述光学发送器电路输出所述多个传出数据信道,以及

其中所述第二收发器接收来自所述光学接收器电路的所述多个传入数据信道,并且向脉冲幅度调制解码器电路输出所述多个传出数据信道。

10.根据权利要求1所述的可编程光子电子集成电路,进一步包括:

所述第一系列电路中的第一收发器;以及

所述第二系列电路中的第二收发器,

其中所述第一收发器接收来自正交幅度调制编码器电路的所述多个传出数据信道,并且向所述光学发送器电路输出所述多个传出数据信道,以及

其中所述第二收发器接收来自所述光学接收器电路的所述多个传入数据信道,并且向正交幅度调制解码器电路输出所述多个传出数据信道。

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