[发明专利]一种测试电路有效
| 申请号: | 201810113887.3 | 申请日: | 2018-02-05 |
| 公开(公告)号: | CN108459218B | 公开(公告)日: | 2021-05-14 |
| 发明(设计)人: | 李东声 | 申请(专利权)人: | 天地融电子(天津)有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 301700 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 测试 电路 | ||
本发明提供一种测试电路,包括:压降模块的第一端与第一电源模块电连接;参考电压调节模块用于通过参考电压输出端输出可调节的参考电压;电压比较模块的第一输入端与压降模块的第二端电连接,第二输入端与参考电压输出端电连接;第二稳压模块的电压输入端与压降模块的第二端电连接;控制模块的触发信号输入端与比较结果输出端电连接;通断模块信号接收端与控制模块的第一控制信号输出端电连接,第一连接端与第二稳压模块的稳压输出端电连接,第二连接端与待测电子设备电连接。
技术领域
本发明涉及电子技术领域,尤其涉及一种测试电路。
背景技术
在工厂中,某一电子产品生产完之后,需要对电子产品的性能参数进行测试,以减少残次品,提高出厂电子产品的质量。电子产品需要测试的性能参数一般包括输入电压、工作电流等。在测试的过程中,当待测的电子产品输入测试电压后,该电子产品有可能会产生过流的情况,如果长时间过流会对电子产品造成损坏。
发明内容
本发明旨在解决上述问题/之一。
本发明的主要目的在于提供一种测试电路
为达到上述目的,本发明的技术方案具体是这样实现的:
本发明一方面提供了一种测试电路,包括第一电源模块、压降模块、参考电压调节模块、电压比较模块、第二稳压模块、控制模块和通断模块,其中,第一电源模块,用于提供电源;压降模块,包括第一端和第二端,其中,第一端与第一电源模块电连接;参考电压调节模块,用于通过参考电压输出端输出可调节的参考电压;第二稳压模块,包括电压输入端和稳压输出端,其中,所述电压输入端与所述压降模块的第二端电连接;电压比较模块,包括第一输入端、第二输入端和比对结果输出端,其中,第一输入端与压降模块的第二端电连接,第二输入端与参考电压输出端电连接;控制模块,包括触发信号输入端和第一控制信号输出端,其中,触发信号输入端与比较结果输出端电连接;控制模块,用于通过第一控制信号输出端向通断模块发送导通控制信号,还用于在触发信号输入端接收到触发信号后,通过第一控制信号输出端向通断模块发送断开控制信号;通断模块,包括第一连接端、第二连接端和信号接收端,其中,信号接收端与控制模块的第一控制信号输出端电连接,第一连接端与第二稳压模块的稳压输出端电连接,第二连接端与待测电子设备电连接;在信号接收端接收到导通控制信号后,第一连接端与第二连接端导通;在信号接收端接收到断开控制信号后,第一连接端与第二连接端的通路断开。
另外,参考电压调节模块,包括第二电源模块、第一基准电压模块、第一稳压模块和第一可变电阻模块,其中,第一基准电压模块,包括第一电源输入端和第一基准电压输出端,其中,第一电源输入端与第二电源模块电连接,第一基准电压输出端输出电压值固定的第一基准电压;第一稳压模块,包括第一参考电位端、可调端和参考电压输出端,其中,第一参考电位端与第一基准电压输出端电连接,用于接收第一基准电压,可调端与第一参考电位端之间的电压差为一固定值;第一可变电阻模块,包括第一固定端、第二固定端和第一滑动端,其中,第一固定端与参考电压输出端电连接,第二固定端与第一参考电位端电连接,第一滑动端与可调端电连接;第一滑动端与第一固定端之间的电阻可调。
另外,参考电压调节模块还包括第一电阻和第二电阻,其中,第一固定端与参考电压输出端电连接,包括:第一固定端与第一电阻的一端电连接,第一电阻的另一端与参考电压输出端电连接;第二固定端与第一参考电位端电连接,包括:第二固定端与第二电阻的一端电连接,第二电阻的另一端与第一基准电压输入端电连接。
另外,测试电路还包括第一电压调节模块,其中,第一电压调节模块包括可调电压输出端,可调电压输出端与第二参考电位端电连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天地融电子(天津)有限公司,未经天地融电子(天津)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810113887.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:天线测试装置
- 下一篇:一种用于测试励磁系统的方法及系统





