[发明专利]薄膜晶体管阵列基板及其制造方法在审
| 申请号: | 201810111246.4 | 申请日: | 2018-02-05 |
| 公开(公告)号: | CN108231674A | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
| 发明(设计)人: | 周星宇 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12 |
| 代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图案化 薄膜晶体管阵列基板 沉积 存储电极 绝缘层 衬底基板 金属氧化物有源层 沉积金属氧化物 沉积栅极绝缘层 制造 第二金属层 第一金属层 蚀刻阻挡层 栅极绝缘层 半导体层 存储电容 像素电极 电极 存储电 钝化层 金属层 光罩 漏极 源极 图案 覆盖 | ||
本发明实施例公开了一种薄膜晶体管阵列基板的制造方法,包括:提供衬底基板;在衬底基板上沉积第一金属层,并图案化形成栅极、第一存储电极;沉积栅极绝缘层,所述栅极绝缘层覆盖栅极、第一存储电极;沉积金属氧化物半导体层,并图案化形成金属氧化物有源层;沉积第二绝缘层,并图案化形成蚀刻阻挡层;沉积第二金属层,并图案化形成源极、漏极、第二存储电极,所述第一存储电极、第二存储电极为存储电容的两个电极;沉积第三绝缘层,并图案化形成钝化层;沉积第三金属层,并图案化形成像素电极。本发明实施例还公开了一种薄膜晶体管阵列基板。采用本发明,具有减少制造薄膜晶体管阵列基板所需要的光罩的数目的优点。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别是涉及一种薄膜晶体管阵列基板及其制造方法。
背景技术
现有的一种薄膜晶体管阵列基板,请参见图1,所述薄膜晶体管阵列基板包括:衬底基板110、缓冲层120、栅极131、第一存储电极132、栅极绝缘层140、金属氧化物有源层150、蚀刻阻挡层160、源极171、漏极172、第二存储电极173、钝化层180和像素电极190,其中,所述栅极绝缘层140在对应第一存储电极132处设有存储贯通孔,所述第一存储电极132、蚀刻阻挡层160和第二存储电极173形成存储电容。
在上述的结构中,形成栅极131、第一存储电极132需要一道光罩,形成栅极绝缘层140需要一道光罩,形成金属氧化物有源层150需要一道光罩,形成蚀刻阻挡层160需要一道光罩,形成源极171、漏极172、第二存储电极173需要一道光罩,形成钝化层180需要一道光罩,形成像素电极190需要一道光罩,从而,形成整个薄膜晶体管阵列基板需要多达7道光罩,导致需要光罩数目较多,成本较高,制程也复杂。
发明内容
本发明实施例所要解决的技术问题在于,提供一种薄膜晶体管阵列基板及其制造方法。可减少制造薄膜晶体管阵列基板所需要的光罩的数目。
为了解决上述技术问题,本发明第一方面实施例提供了一种薄膜晶体管阵列基板的制造方法,包括:
提供衬底基板;
在衬底基板上沉积第一金属层,并图案化形成栅极、第一存储电极;
沉积栅极绝缘层,所述栅极绝缘层覆盖栅极、第一存储电极;
沉积金属氧化物半导体层,并图案化形成金属氧化物有源层;
沉积第二绝缘层,并图案化形成蚀刻阻挡层;
沉积第二金属层,并图案化形成源极、漏极、第二存储电极,所述第一存储电极、第二存储电极为存储电容的两个电极;
沉积第三绝缘层,并图案化形成钝化层;
沉积第三金属层,并图案化形成像素电极。
在本发明第一方面一实施例中,所述沉积栅极绝缘层的步骤具体为:在高温条件下沉积栅极绝缘层。
在本发明第一方面一实施例中,所述第一存储电极、栅极绝缘层、第二存储电极共同形成所述存储电容。
在本发明第一方面一实施例中,所述蚀刻阻挡层对应第一存储电极处形成存储贯通孔,所述存储贯通孔还向下延伸进入到部分栅极绝缘层。
在本发明第一方面一实施例中,所述高温的范围为大于300℃。
在本发明第一方面一实施例中,所述栅极绝缘层的厚度为
在本发明第一方面一实施例中,所述沉积第二绝缘层的步骤具体为:在低温条件下通过PECVD工艺沉积第二绝缘层。
在本发明第一方面一实施例中,所述第二绝缘层的厚度为
本发明第二方面实施例提供了一种薄膜晶体管阵列基板,包括:
衬底基板;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





