[发明专利]一种基于像素顶点的平行束投影方法有效
申请号: | 201810109560.9 | 申请日: | 2018-02-05 |
公开(公告)号: | CN108492341B | 公开(公告)日: | 2022-02-25 |
发明(设计)人: | 朱守平;鲍翠平;陈雪利;谢晖;梁继民 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00 |
代理公司: | 西安长和专利代理有限公司 61227 | 代理人: | 黄伟洪 |
地址: | 710071 陕西省*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 像素 顶点 平行 投影 方法 | ||
1.一种基于像素顶点的平行束投影方法,其特征在于,所基于像素顶点的平行束投影方法包括:以图像中心为原点建立二维坐标系,计算每个像素中心的坐标,以探测器阵列中心为原点建立一维坐标系,计算每个探测器的坐标;在确定的投影角度下,计算每个像素中心投影到探测器上的坐标;计算投影的上底和下底的长度;计算像素四个顶点投影到探测器上的坐标;根据坐标判断像素顶点投影到哪些探测器上,计算对应的面积即为权值;
所述基于像素顶点平行束投影方法包括以下步骤:
(1)以图像中心为原点建立二维坐标系I,计算每个像素中心的坐标(xi,yi),i=1,2,…N,N为图像中像素的个数,以探测器阵列中心为原点建立一维坐标系D,计算每个探测器边界的坐标ti,i=1,2,…M,M为探测器的个数;
(2)在确定的投影角度θ下,计算每个像素中心投影到探测器上的坐标Pi:
Pi=xi·cosθ-yi·sinθ+r;
其中r是坐标系I和D的原点在横向上的距离:r=OI-OD;
(3)计算投影的上底和下底的长度w1和w2:
其中X是像素的边长,θ是投影角度;
(4)计算像素的四个顶点投影到探测器上的坐标:
(5)根据像素四个顶点投影之后的坐标判断该像素投影到哪些探测器上,将投影按面积分配到探测器上,每个探测器分配到的面积为像素对该探测器的权值贡献,投影和探测器的相对位置有十种情况,因此权值的计算也对应如下情况:w=dh;
d是探测器的尺寸,S=X2是梯形的面积,是梯形的高度;
(6)重复(2)至(5),完成所有投影角度的投影。
2.如权利要求1所述的基于像素顶点的平行束投影方法,其特征在于,所述(3)中计算投影上底和下底的长度时,将像素的两条对角线投影到探测器上,长度较长的一条为下底,长度较短的一条为上底;投影角度为0°,90°,180°或270°,两条对角线投影长度相等,此时像素的投影为矩形;投影角度为45°,135°,225°或315°时,其中一条对角线垂直于探测器,投影长度为0,像素的投影为等腰三角形。
3.如权利要求1所述的基于像素顶点的平行束投影方法,其特征在于,所述(5)中判断像素投影到哪些探测器上及对应的权值计算方法具体如下:某一探测器的左边界坐标为Dbe,右边界坐标为Dend;
1)如果Dend≤Pube满足,则像素没有投影到该探测器上;
2)如果Dbe≤Pube,Pube<Dend≤Ptbe两式同时满足,则分配到该探测器的投影形状为三角形,使用计算权值;
3)如果Dbe≤Pube,Ptbe<Dend≤Ptend两式同时满足,则分配到该探测器的投影形状为直角梯形,使用计算权值;
4)如果Dbe≤Pube,Ptend<Dend<Puend两式同时满足,则分配到该探测器的投影形状为四边形,使用计算权值;
5)如果Pube<Dbe<Ptbe,Ptend<Dend<Puend两式同时满足,则分配到该探测器的投影形状为六边形,使用计算权值;
6)如果Ptbe≤Dbe,Dend≤Ptend两式同时满足,则分配到该探测器的投影形状为矩形,使用w=dh计算权值;
7)如果Ptbe≤Dbe<Ptend,Ptend<Dend<Puend两式同时满足,则分配到该探测器的投影形状为五边形,使用计算权值;
8)如果Pube<Dbe<Ptbe,Ptbe<Dend≤Puend两式同时满足,则分配到该探测器的投影形状为五边形,使用计算权值;
9)如果Pube<Dbe<Ptbe,Dend≥Puend两式同时满足,则分配到该探测器的投影形状为四边形,使用计算权值;
10)如果Ptbe≤Dbe<Ptend,Dend≥Puend两式同时满足,则分配到该探测器的投影形状为直角梯形,使用计算权值;
11)如果Ptend≤Dbe<Puend,Dend≥Puend两式同时满足,则分配到该探测器的投影形状为三角形,使用计算权值;
12)如果Dbe≥Puend满足,则像素没有投影到该探测器上。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810109560.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。