[发明专利]测试光模块性能的装置

权利要求书

1.一种测试光模块性能的装置，包括：PC机、光模块性能测试板和光功率计，其中，PC机上运行有上位机软件，服务器上安装了数据库，测试板上设有USB转I2C芯片，其特征在于：PC机通过RJ45网线相连服务器，通过USB数据线相连光模块性能测试板，通过RS232串口线相连光功率计，光功率计通过光纤分光器相连ROSA光器件，被测光模块通过金手指插槽接入测试板，被测光模块的TX端的平均光功率通过光纤分光器之后一分为二，一路送入ROSA光器件，另一路送入光功率计，PC机获取光功率计所测得的被测光模块的平均光功率值，然后通过服务器已配置好的光功率阈值进行比较，通过比较结果确定被测光模块的平均光功率值是否在正常的范围内。

2.如权利要求1所述的测试光模块性能的装置，其特征在于：服务器内置数据库为SQLServer数据库，SQL Server数据库保存着备后续进行数据查询和统计数据被测光模块的性能测试结果及报警信息，预存储有供PC机自动测试软件运行，操作数据库表、查询数据库表里的记录，以及往数据库表里插入新的记录；自动测试软件通过测试板上的USB转I2C芯片，启动测试板对被测光模块的I2C接口进行各种异常操作，向微控制器MCU发送各种指令。

3.如权利要求1所述的测试光模块性能的装置，其特征在于：PC机通过USB数据线与被测光模块性能测试板相连并进行通信，USB转I2C芯片与微控制器MCU之间的通信遵循I2C总线协议，PC机上运行的自动测试软件通过RS232串口线获取光功率计测得的被测光模块的平均光功率值。

4.如权利要求1所述的测试光模块性能的装置，其特征在于：USB转I2C芯片通过USB数据线接收到PC机下发的指令，然后通过I2C总线把指令转发送至微控制器MCU，微控制器MCU根据接收到的指令类别来对被测光模块的I2C接口性能或者被测光模块的消光比性能进行测试，此时微控制器MCU工作在I2C总线的从模式。

5.如权利要求1所述的测试光模块性能的装置，其特征在于：被测光模块性能测试板上的USB转I2C芯片通过I2C总线的SDA数据线、SCL时钟线与微控制器MCU进行双向通信，此时的微控制器MCU作为I2C总线的主机，被测光模块作为I2C总线的从机；微控制器MCU作为I2C总线的主机，被测光模块作为I2C总线的从机时，微控制器MCU对光模块的I2C接口进行各种异常操作，并通过读取被测光模块的I2C接口返回的应答数据来判断被测光模块的I2C接口是否能够从异常情况中恢复，以此来评估被测光模块的I2C接口性能。

6.如权利要求1所述的测试光模块性能的装置，其特征在于：微控制器MCU通过ADC信号线相连ROSA光器件，采集ROSA光器件的ADC值，然后通过微控制器MCU内置的固件算法确定光模块的消光比值，得到此ADC值对应的被测光模块的消光比值。

7.如权利要求1所述的测试光模块性能的装置，其特征在于：被测光模块的TX端的平均光功率通过光纤分光器之后一分为二，一路送入ROSA光器件，另一路送入光功率计，被测光模块的I2C信号通过金手指插槽连通测试板；I2C总线在传送数据过程中共有3种类型信号，一是起始信号，当SCL为高电平时，SDA由高电平向低电平跳变，即开始传输数据；二是停止信号，在SCL为高电平时，SDA由低电平向高电平跳变，则停止传输数据；三是应答信号，当接收数据的设备在接收到8bit数据后，便向发送数据的设备发出特定的低电平脉冲，表示已收到数据。

8.如权利要求1所述的测试光模块性能的装置，其特征在于：微控制器MCU通过内置的已预先编写好的固件来识别PC机下发的指令，然后根据自动测试软件的指令类别，模拟出被测光模块的I2C接口的异常操作，当被测光模块的I2C接口对这些操作进行响应并当发生异常时，微控制器MCU就会触发告警灯1发光，这样就实现了对被测光模块的I2C接口性能的测试。