[发明专利]一种晶振频率守时的方法及守时设备在审
| 申请号: | 201810103343.9 | 申请日: | 2018-02-01 |
| 公开(公告)号: | CN110109342A | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
| 发明(设计)人: | 冯刚涛;邱文才;张辉;吴继华 | 申请(专利权)人: | 深圳市英特瑞半导体科技有限公司 |
| 主分类号: | G04R20/04 | 分类号: | G04R20/04;G04R40/06 |
| 代理公司: | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人: | 曲卫涛 |
| 地址: | 518054 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 断电 时长 老化率 晶振 守时 通电 守时设备 种晶 晶振频率守时 补偿频率 计算补偿 低成本 预存 | ||
1.一种晶振频率守时的方法,其特征在于,包括:
获取晶振的断电起始时间和通电起始时间;
根据所述断电起始时间、所述通电起始时间,计算实际断电时长;
从预存的断电时长与所述晶振的频率老化率曲线对应关系中,获取所述实际断电时长对应的频率老化率曲线;
根据所述对应的频率老化率曲线和当前通电时长,计算补偿频率;
根据所述补偿频率,对所述晶振的频率进行调整。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述获取晶振的断电起始时间和通电起始时间之前,所述方法还包括:
当正常接收到参考源信号时,对所述晶振进行断电,并且在所述晶振的测试断电时长之后对所述晶振进行正常供电;
在对所述晶振正常供电之后,获取所述晶振的测试通电时长和所述晶振的测试输出频率,并且根据所述测试通电时长、所述测试输出频率和所述参考源信号的标准频率,生成所述晶振的频率老化率曲线;
将所述测试断电时长作为断电时长,并且存储所述断电时长与所述频率老化率曲线之间的对应关系;
对所述测试断电时长增加预设间隔值,并且在所述测试断电时长增加预设间隔值之后,判断所述测试断电时长是否大于预设阈值,若是则停止,否则返回所述对所述晶振进行断电,并且在所述晶振断电所述测试断电时长之后对所述晶振进行正常供电的步骤。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述对应的频率老化率曲线和当前通电时长,计算补偿频率的计算公式如下:
Y=Y0+At;
ΔY=Y-Y0;
其中,所述Y为当前频率,所述Y0为起始频率,所述Α为老化率,所述t为当前通电时长,所述ΔY为补偿频率。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在所述根据所述补偿频率,对所述晶振的频率进行调整之前,所述方法还包括:
根据所述实际断电时长、所述当前通电时长,查询对应的所述测试输出频率;
比较所述对应的所述测试输出频率与所述当前频率,得到频率偏差;
若所述频率偏差小于预设误差阈值,则根据所述补偿频率,对所述晶振的频率进行调整。
5.一种守时设备,其特征在于,包括:晶振和中央处理器,所述晶振与所述中央处理器连接;
所述中央处理器用于:获取晶振的断电起始时间和通电起始时间;根据所述断电起始时间、所述通电起始时间,计算实际断电时长;从预存的断电时长与所述晶振的频率老化率曲线对应关系中,获取所述实际断电时长对应的频率老化率曲线;根据所述对应的频率老化率曲线和当前通电时长,计算补偿频率;根据所述补偿频率,对所述晶振的频率进行调整。
6.根据权利要求5所述的守时设备,其特征在于,所述守时设备还包括天线接收模块;
所述天线接收模块用于接收参考源信号;
所述中央处理器用于:
当所述天线接收模块正常接收到所述参考源信号时,对所述晶振进行断电,并且在所述晶振的测试断电时长之后对所述晶振进行正常供电;
在对所述晶振正常供电之后,获取所述晶振的测试通电时长和所述晶振的测试输出频率,并且根据所述测试通电时长、所述测试输出频率和所述参考源信号的标准频率,生成所述晶振的频率老化率曲线;
将所述测试断电时长作为断电时长,并且存储所述断电时长与所述频率老化率曲线之间的对应关系;
对所述测试断电时长增加预设间隔值,并且在所述测试断电时长增加预设间隔值之后,判断所述测试断电时长是否大于预设阈值,若是则停止,否则返回所述对所述晶振进行断电,并且在所述晶振断电所述测试断电时长之后对所述晶振进行正常供电的步骤。
7.根据权利要求6所述的守时设备,其特征在于,所述守时设备还包括电源,所述电源分别与所述晶振、所述中央处理器连接;
所述电源用于为所述晶振提供电源;
所述中央处理器还用于:控制所述电源对所述晶振进行断电或控制所述电源对晶振进行供电。
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