[发明专利]用于添加式地制造三维物体的设备的校准装置在审

专利信息
申请号: 201810096824.1 申请日: 2018-01-31
公开(公告)号: CN109808174A 公开(公告)日: 2019-05-28
发明(设计)人: D·布劳恩罗思 申请(专利权)人: CL产权管理有限公司
主分类号: B29C64/153 分类号: B29C64/153;B29C64/20;B29C64/214;B29C64/371;B29C64/393;B33Y30/00;B33Y40/00;B33Y50/02
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 徐颖聪
地址: 德国利希*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 几何参数 承载元件 确定单元 施加单元 校准单元 粉末模块 三维物体 校准装置 自动地 制造
【权利要求书】:

1.一种用于添加式地制造三维物体的设备的校准装置(1),该校准装置(1)包括至少一个确定单元(2,3)和至少一个校准单元(16,17),其中所述至少一个确定单元(2)适于确定粉末模块的承载元件(4)的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元(17)适于根据所述承载元件(4)的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节所述设备的施加单元(5),和/或其中所述至少一个确定单元(3)适于确定所述设备的施加单元(5)的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元(16)适于根据所述施加单元(5)的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节粉末模块的承载元件(4)。

2.根据权利要求1所述的校准装置,其特征在于,所述至少一个几何参数经由以下单元来确定:

-光学确定单元(2,3),和/或

-触觉确定单元(2,3),和/或

-超声确定单元(2,3)。

3.根据前述权利要求中任一项所述的校准装置,其特征在于,所述确定单元(3)适于确定所述施加单元(5)的施加元件(6)相对于施加元件托架(11)的取向或所述施加元件(6)与所述施加元件托架(11)之间的距离(13)。

4.根据前述权利要求中任一项所述的校准装置,其特征在于,所述校准单元(17)适于在沿所述施加元件(6)的至少一个位置调节所述施加元件托架(11)与所述施加元件(6)的边缘(14)之间的距离(13)。

5.根据前述权利要求中任一项所述的校准装置,其特征在于,所述校准单元(17)适于调节针对沿所述施加元件(6)的至少两个位置的至少两个不同的距离(13)。

6.根据前述权利要求中任一项所述的校准装置,其特征在于,所述距离和/或所述取向经由以下单元来确定:

-光学确定单元(2,3),和/或

-触觉确定单元(2,3),和/或

-超声确定单元(2,3)。

7.根据前述权利要求中任一项所述的校准装置,其特征在于,所述校准单元(16,17)和所述确定单元(2,3)形成组合模块。

8.根据前述权利要求中任一项所述的校准装置,其特征在于,所述校准装置(1)与或能与所述设备相连接,特别是集成在所述设备中。

9.一种用于通过依次逐层地选择性照射和固化由能借助能量源固化的建造材料构成的层来添加式地制造三维物体的设备,其特征在于具有校准装置(1),特别是根据前述权利要求中任一项所述的校准装置(1),该校准装置(1)包括至少一个确定单元(2,3)和至少一个校准单元(16,17),其中所述至少一个确定单元(2)适于确定粉末模块的承载元件(4)的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元(17)适于根据所述承载元件(4)的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节所述设备的施加单元(5),和/或其中所述至少一个确定单元(3)适于确定所述设备的施加单元(5)的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元(16)适于根据所述施加单元(5)的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节粉末模块的承载元件(4)。

10.根据权利要求9所述的设备,其特征在于,所述校准装置(1)布置在所述设备的外部,或所述校准装置(1)至少部分地——特别是所述校准单元——集成在所述设备中。

11.根据权利要求9或10所述的设备,其特征在于具有控制单元(8),所述控制单元适于将经校准的施加单元(5)分配给使用对应的承载元件(4)的制造过程,其中已根据对应的承载元件(4)的所述至少一个几何参数执行所述施加单元(5)的调节。

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