[发明专利]发光材料力致发光性能的检测装置有效
申请号: | 201810095627.8 | 申请日: | 2018-01-31 |
公开(公告)号: | CN108398420B | 公开(公告)日: | 2021-01-19 |
发明(设计)人: | 潘志东;吕海涛;苏洪炎;李萍;王燕民 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G01N21/70 | 分类号: | G01N21/70;G01N21/01 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 黄磊 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光 材料 性能 检测 装置 | ||
发光材料力致发光性能的检测装置,包括暗箱、载物台、紫外灯、压力信号监测系统、光信号监测系统;暗箱包括内层暗箱、外层暗箱,内层暗箱放置在外层暗箱底部的一侧;紫外灯设于外层暗箱内且位于内层暗箱的上方;压力传感器设于外层暗箱内,并正对于外层暗箱上方的施力口,压力信号输出端安装于外层暗箱的外壁上,压力传感器、压力变送器、压力信号输出端依次电连接;载物台设于内层暗箱的上方,载物台上开设有试样安装槽,试样安装槽和外层暗箱上方的施力口、压力传感器同轴心。本发明具有同时同步监测、记录机械激发力的压力信号和产生的光信号,监测结果较为精准等优点。本发明属于检测技术领域。
技术领域
本发明属于检测技术领域,具体涉及一种发光材料力致发光性能的检测装置。
背景技术
力致发光性能是指发光材料受到冲击、压缩、摩擦、切割等机械力作用而发光。力致发光现象在400多年前已被发现,许多无机和有机化合物在破碎或机械应力作用下会出现发光现象,这些可以机械发光的化合物包括导体,半导体和绝缘体的。材料的力致发光现象引起了机械工程、材料断裂和地震预测与监测、生命科学与医疗诊断等领域研究人员的极大兴趣和重视。在对发光材料做力致发光性能检测时,主要分为两部分:机械力激发和光学检测。目前,并没有集机械力激发和光学检测于一体的力致发光光谱仪。因此,现在对于发光材料做力致发光性能检测,主要通常将光学测量装置连接到机械力激发装置上来检测。这种操作通过采用外部紫外灯对发光材料照射后,机械力激发发光材料产生光,仪器再采集光信号来表征力致发光性能。但是,这并不能方便快捷完成紫外灯激发,在试验过程记录和监测有迟缓,不能同步显示力信号和光信号,影响对力致发光性能的监测结果,使它的应用受到一定的限制。
发明内容
针对上述问题,本发明提供一种能同步监测、记录机械激发力信号和光信号发光材料力致发光性能的检测装置,它还具有体积小、灵敏度高、操作方便、成本低等优点。
发光材料力致发光性能的检测装置,包括暗箱、载物台、紫外灯、压力信号监测系统、光信号监测系统;暗箱包括内层暗箱、外层暗箱,内层暗箱放置在外层暗箱底部的一侧;紫外灯设于外层暗箱内且位于内层暗箱的上方;压力信号监测系统包括压力传感器、压力变送器、压力信号输出端,压力传感器设于外层暗箱内,并正对于外层暗箱上方的施力口,压力信号输出端安装于外层暗箱的外壁上,压力传感器、压力变送器、压力信号输出端依次电连接;载物台设于内层暗箱的上方,载物台上开设有试样安装槽,试样安装槽和外层暗箱上方的施力口、压力传感器同轴心;光信号监测系统包括光信号接收端、光信号输出端,光信号接收端和光信号输出端电连接,内层暗箱的上面设有圆孔,光信号接收端设于内层暗箱内并正对于圆孔,圆孔和试样安装槽对齐。采用此结构,能同时同步监测、记录机械激发力的压力信号和产生的光信号,监测结果较为精准,而且体积小、灵敏度高、操作方便、成本低。
作为一种优选,载物台底座安装在内层暗箱的上表面,载物台底座的中心安装有一固定轴,载物台通过轴承转动式安装于固定轴上;载物台上设有两个试样安装槽,两个试样安装槽对称设置于载物台上;外层暗箱和内层暗箱相接的一侧壁的上方开设有开口,开口的高度位置和载物台相同,载物台的一侧伸出该开口。采用此结构,方便从开口中取出或放置载物台,以便于置入或取出试样;同时,载物台能旋转,便于放置载物台后能准确地调整试样和压力传感器对齐,使得测量结果更为准确。
作为一种优选,开口的外侧设有磁吸物质,载物台采用铁材质制成,载物台安装后通过磁吸物质和开口吸附在一起。采用此结构,载物台安装后能通过磁吸物质吸附在一起,使得安装后的载物台较为稳定,测量时试样稳定,测量误差小。
作为一种优选,还包括定位支撑板,定位支撑板安装于载物台的上方,定位支撑板一端设有通孔,通孔和压力传感器、施力口均同轴心;定位支撑板另一端安装有紫外灯,紫外灯和通孔对称分布在定位支撑板上。采用此结构,能通过定位支撑板使得载物台旋转时能更容易和压力传感器、施力口的轴心对齐;也能通过定位支撑板使得旋转载物台时能将试样置于紫外灯正下方,光激活试样效率更高。
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