[发明专利]功能测试治具顶针的检测装置及检测方法

说明书

本发明公开了一种功能测试治具顶针的检测装置及检测方法，所述检测装置包括：检测载台；下模，下模安装在检测载台的上表面上，下模上形成有沿竖直方向贯通的多个通孔，每个通孔内设有顶部敞开且底端封闭的导电套筒，导电套筒的底部电连接有LED灯，下模为透明或半透明且不导电的部件；压合机构，压合机构包括压合机构本体和上模，上模相对下模可上下移动，顶针组件安装在上模的下方，当USB接口接通电源且上模向下移动，在顶针插入到对应的导电套筒内并与导电套筒接触以点亮对应的LED灯时则顶针合格。根据本发明的功能测试治具顶针的检测装置，实现了规范化检测，避免了人工目检的检查缺陷，降低了功能测试治具上线不良率及因此造成的误测率。

技术领域

本发明涉及电子设备制造技术领域，尤其是涉及一种功能测试治具顶针的检测装置及检测方法。

背景技术

在手机主板或同类型的电子产品生产中，需要大批量使用到带有顶针的功能测试治具，该功能测试治具的顶针直径最小为0.7mm，甚至做到了最小0.4mm。然而，这么小直径的顶针，使得功能测试治具在生产、存放及运输中经常会因为外力作用导致顶针出现弯曲、歪斜的现象，从而导致在后续测试使用过程中出现误测及无法使用的情况。

目前，通常采用目检的方式进行检查，存在检出率低下，对顶针精度无法有效把控，从而对手机主板或同类型的电子产品的生产品质及生产效率造成影响。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种功能测试治具顶针的检测装置，所述检测装置可以直观有效地检测出所述顶针是否弯曲、歪斜。

本发明还提出一种采用上述功能测试治具顶针的检测装置对功能测试治具顶针进行检测的检测方法。

根据本发明第一方面实施例的功能测试治具顶针的检测装置，所述功能测试治具包括顶针组件，所述顶针组件包括具有USB接口的顶针组件本体和设在所述顶针组件本体下侧的多个顶针，多个所述顶针通过所述USB接口与电源接通，所述检测装置包括：检测载台；下模，所述下模安装在所述检测载台的上表面上，所述下模上形成有沿竖直方向贯通的多个通孔，每个所述通孔内设有顶部敞开且底端封闭的导电套筒，所述导电套筒的底部电连接有LED灯，所述下模为透明或半透明、且不导电的部件；压合机构，所述压合机构设在所述检测载台上，所述压合机构包括压合机构本体和设在所述压合机构本体上且位于所述下模上方的上模，所述上模相对于所述下模可上下移动，其中所述顶针组件适于安装在所述上模的下方，当所述USB接口接通所述电源且所述上模向下移动，在所述顶针插入到对应的所述导电套筒内并与所述导电套筒接触以点亮对应的所述LED灯时则所述顶针合格。

根据本发明实施例的功能测试治具顶针的检测装置，可以非常直观有效地检测出功能测试治具的顶针是否存在异常及无法导通，实现了对功能测试治具的顶针的规范化检测，避免了人工目检存在的检查缺陷，降低了功能测试治具上线不良率及因此造成的误测率。

根据本发明的一些实施例，所述下模的底部形成有向上凹入的凹槽，其中多个所述通孔与所述凹槽上下正对，且每个所述通孔的下端贯穿所述凹槽的顶壁，所述LED灯位于所述凹槽内。

根据本发明的一些实施例，所述通孔包括从上到下依次相连的第一通孔段和第二通孔段，其中所述导电套筒安装在所述第二通孔段内，且所述导电套筒的内周壁与所述第一通孔段的内周壁平齐，或所述第一通孔段的横截面积小于所述导电套筒的内周横截面积，所述顶针与所述导电套筒的侧壁或底壁接触以点亮对应的所述LED灯。

根据本发明的一些实施例，所述第一通孔段的高度为h，其中，所述h满足：h≥0.3mm。

根据本发明的一些实施例，所述h进一步满足：h≥0.5mm。