[发明专利]形状测定装置的控制方法有效

专利信息
申请号: 201810090762.3 申请日: 2018-01-30
公开(公告)号: CN108458642B 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 野田孝 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 形状 测定 装置 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种形状测定装置的控制方法,该形状测定装置包括:

探针头,该探针头包括顶端具有测定端的触针、绕着第一旋转轴旋转的第一驱动轴以及绕着垂直于所述第一旋转轴的第二旋转轴旋转的第二驱动轴,该探针头由所述第一驱动轴及所述第二驱动轴的旋转动作改变所述触针的姿势;以及

坐标测量机,该坐标测量机包括作为互相垂直的三个平移轴的第三驱动轴、第四驱动轴以及第五驱动轴,该坐标测量机使所述探针头的位置三维变位,

其中,通过所述第三驱动轴至所述第五驱动轴的坐标值(T3、T4、T5)来提供所述测定端的位置,

其中,通过所述第一驱动轴的第一旋转角α及所述第二驱动轴的第二旋转角β来提供所述探针头的姿势,

该控制方法包括如下步骤:

针对所述第一驱动轴至所述第五驱动轴的各驱动轴,在从现在地点Hs(Ts3、Ts4、Ts5、αs、βs)到目标地点He(Te3、Te4、Te5、αe、βe)的移动路径上计算出每个控制周期的插值点;

当将所述第一旋转轴与所述第二旋转轴的交点设定为旋转中心Q时,根据考虑所述第一驱动轴及所述第二驱动轴的插值点(αi、βi)的值的规定变换式将所述测定端的插值点的坐标值变换为所述旋转中心Q的坐标值,并将该旋转中心Q的坐标值设定为控制用插值点Qi;以及

在每个控制周期,以将所述第三驱动轴至所述第五驱动轴的位置控制到所述控制用插值点Qi的方式控制所述第三驱动轴至所述第五驱动轴的位置并且以将所述第一驱动轴及所述第二驱动轴的位置控制到所述第一驱动轴及所述第二驱动轴的插值点(αi、βi)的方式控制所述第一驱动轴及所述第二驱动轴的位置。

2.根据权利要求1所述的形状测定装置的控制方法,还包括如下步骤:

生成从所述现在地点Hs(Ts3、Ts4、Ts5、αs、βs)到所述目标地点He(Te3、Te4、Te5、αe、βe)的所述第一驱动轴至所述第五驱动轴的各驱动轴的速度模式;以及

通过使针对所述第三驱动轴至所述第五驱动轴的各驱动轴生成的速度模式以共同的加减速时间及共同的所需时间来同步的方式,生成所述第三驱动轴至所述第五驱动轴的共同速度模式。

3.根据权利要求1所述的形状测定装置的控制方法,还包括如下步骤:

生成从所述现在地点Hs(Ts3、Ts4、Ts5、αs、βs)到所述目标地点He(Te3、Te4、Te5、αe、βe)的所述第一驱动轴至所述第五驱动轴的各驱动轴的速度模式;以及

通过使针对所述第一驱动轴至所述第五驱动轴的各驱动轴生成的速度模式以共同的加减速时间及共同的所需时间来同步的方式,生成所述第一驱动轴至所述第五驱动轴的共同速度模式。

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