[发明专利]一种FTIR测量光电探测器响应的宽谱校正方法有效
申请号: | 201810089435.6 | 申请日: | 2018-01-30 |
公开(公告)号: | CN108489609B | 公开(公告)日: | 2019-09-27 |
发明(设计)人: | 张永刚;邵秀梅;张忆南;李雪;龚海梅;方家熊 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J5/00 |
代理公司: | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人: | 李秀兰 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 校正 宽谱 光谱仪 分束器 响应 光源 测量光电探测器 频率响应特性 热释电探测器 光电探测器 放大电路 探测器 光谱 原始输出特性 背景光谱 标准配置 平坦响应 实际输出 输出特性 原始响应 宽光谱 参比 拟合 测量 扫描 | ||
1.一种FTIR测量光电探测器响应的宽谱校正方法,所述的宽谱校正方法以作为傅里叶变换红外光谱仪标准配置的具有宽光谱范围平坦响应的热释电探测器为基础,通过实际测量及拟合计算来获得校正探测器响应光谱所需的背景光谱,然后利用该背景光谱获得待测光电探测器的实际响应光谱;其特征在于所述的校正方法包括以下步骤:
1)通过测量热释电探测器及放大电路对选定光源和分束器组合在不同扫描速度下对光谱波长频率的响应,然后提取相关数据拟合出此探测器及放大电路的解析频率响应特性;
2)根据步骤1)得到的热释电探测器及放大电路解析频率响应特性对特定光源和分束器组合的原始输出特性进行校正,从而得到在此特定光源和分束器组合下傅里叶变换红外光谱仪的实际输出特性;
3)根据步骤2)得到的以此校正后的光谱仪实际输出特性作为背景光谱,对测量所得的光电探测器的原始响应光谱进行参比操作,即可得到校正后的光电探测器实际响应光谱。
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