[发明专利]一种射线源位置坐标的获取方法有效
申请号: | 201810088133.7 | 申请日: | 2018-01-30 |
公开(公告)号: | CN108445527B | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 张岚;顾铁;刘柱;王伟 | 申请(专利权)人: | 张岚 |
主分类号: | G01T1/36 | 分类号: | G01T1/36;G01B15/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 100080 北京市海淀区苏*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射线 位置 标的 获取 方法 | ||
1.一种射线源位置坐标的获取方法,其特征在于,所述获取方法包括:
于待测环境中设置至少两个不同位置的探测点,并通过放置于所述探测点上的探测器对所述待测环境中存在的射线源进行测试,同时增加角度分辨率校正的步骤,以获取同一射线源以不同位置探测器为中心的多张空间径向锥面分布图;具体为:根据所述探测器的特性参数,获取角度分辨率;通过不同位置的探测器对待测环境中的射线源进行测试,获取同一射线源以不同位置探测器为中心的径向角度;根据所述角度分辨率,对获取的径向角度进行角度校正,以获取同一射线源以不同位置探测器为中心的多张空间径向锥面分布图;以及
对同一射线源以不同位置探测器为中心的多张空间径向锥面分布图进行融合处理,以获取所述射线源的位置坐标;具体为:对多张空间径向锥面分布图中同一射线源的径向锥面进行相交处理,以获取多个交点,并根据多个交点确定所述射线源所在区域的位置坐标;
其中,所述探测器的数量为1个。
2.根据权利要求1所述的射线源位置坐标的获取方法,其特征在于,所述角度分辨率的范围包括1度~30度。
3.根据权利要求1所述的射线源位置坐标的获取方法,其特征在于,所述探测点的数量大于等于3时,多个所述探测点构成一多边形。
4.根据权利要求1所述的射线源位置坐标的获取方法,其特征在于,所述探测点之间的距离不小于所述探测器的宽度。
5.根据权利要求1所述的射线源位置坐标的获取方法,其特征在于,所述探测器包括:NaI伽马谱仪、CsI伽马谱仪、LaBr3伽马谱仪、LaCl3伽马谱仪、高纯锗伽马谱仪、CdZnTe半导体伽马谱仪、CdTe半导体伽马谱仪、HgI半导体伽马谱仪、TlBr半导体伽马谱仪或康普顿相机。
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