[发明专利]芯片单粒子辐照测试方法、装置、系统及数据库建立方法

权利要求书

1.一种芯片单粒子辐照测试方法，在测试控制端执行，其特征在于，包括：

获取测试指令，并根据所述测试指令中包含的测试向量压缩文件标识，从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件；

对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值；

根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值；

将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，确定待测芯片的单粒子辐照测试结果。

2.根据权利要求1所述的芯片单粒子辐照测试方法，其特征在于，所述测试指令中包含至少两组测试向量压缩文件标识；

所述从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件，包括：分别从测试向量压缩文件数据库中提取所述至少两组测试向量压缩文件标识对应的至少两组测试向量压缩文件；

所述对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，包括：对提取的至少两组所述测试向量压缩文件分别进行解压缩。

3.根据权利要求1所述的芯片单粒子辐照测试方法，其特征在于，所述测试向量压缩文件标识包括读数据的首地址和末尾地址。

4.根据权利要求1所述的芯片单粒子辐照测试方法，其特征在于，所述将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较之后，还包括：

获取测试结果调取指令，并根据所述调取指令发送所述待测芯片的单粒子辐照测试结果。

5.一种芯片单粒子辐照测试方法，在主控制端执行，其特征在于，包括：

发送测试指令，所述测试指令中包含有测试向量压缩文件标识，以使测试控制端根据所述测试向量压缩文件标识，从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件，并对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值，从而根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值，所述测试控制端将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，确定待测芯片的单粒子辐照测试结果。

6.一种测试向量压缩文件数据库的建立方法，其特征在于，包括：

计算芯片各测试向量的第一逻辑差异和第二逻辑差异，得到所述各测试向量的第一逻辑差异数据流和第二逻辑差异数据流，其中所述第一逻辑差异为所述测试向量在相邻周期内的逻辑差异，所述第二逻辑差异为所述测试向量对应的输出标准值在相邻周期内的逻辑差异；

对各所述测试向量的第一逻辑差异数据流和第二逻辑差异数据流进行压缩编码处理，得到包含芯片的各测试向量压缩文件的测试向量压缩文件数据库，以使测试控制端根据测试向量压缩文件标识，从所述测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件，并对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值，根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值，从而使所述测试控制端将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，确定待测芯片的单粒子辐照测试结果。

7.一种芯片单粒子辐照测试装置，在测试控制端，其特征在于，包括：

控制单元，用于获取测试指令，并根据所述测试指令中包含的测试向量压缩文件标识，从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件；

解压单元，用于对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值；

发送单元，用于根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值；

比较单元，用于将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，确定待测芯片的单粒子辐照测试结果。