[发明专利]列表模式数据的排序方法、装置及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种列表模式数据的排序方法，其特征在于，所述方法包括：

根据列表模式数据获取响应线的信息，所述列表模式数据中记录有连续移动扫描模式下探测到的响应线的信息，所述响应线的信息包括所述响应线对应的探测器晶体位置信息、测量时间信息和床体的运动位置信息；

获取探测到的响应线计数；

根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正，得到校正后的响应线计数，所述校正包括归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正；

基于所述校正后的响应线计数获取3D正弦图数据；

所述根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正，包括：

获取基于所述响应线对应的探测器晶体位置信息得到的与所述响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子；

根据所述归一化校正因子和死时间校正因子对所述响应线计数进行归一化校正和死时间校正。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述归一化校正因子和死时间校正因子对所述响应线计数进行归一化校正和死时间校正，包括：

根据所述归一化校正因子和死时间校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正和死时间校正：

N₂＝norm(det1)·norm(det2)·dt(det1)·dt(det2)；

其中，所述N₂为经过归一化校正和死时间校正后的响应线计数；所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置；所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子；所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正，还包括：

获取基于测量时间和核素的半衰期得到的衰变校正因子；

根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正，包括：

根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正：

其中，所述N₃为经过归一化校正、死时间校正及衰变校正之后的响应线计数；所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置；所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子；所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子；所述为衰变校正因子，所述t为测量时间，所述T_1/2为核素的半衰期。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正，还包括：

获取基于测量时间和核素的半衰期得到的衰变校正因子；

获取基于响应线穿过衰减系数图像的径迹得到的衰减校正因子；

根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正。