[发明专利]测试分选机

说明书

根据本发明的实施方式，提供了一种测试分选机，其包括：装载单元，用于装载电子部件；浸泡室，用于预冷却或预加热完成装载的电子部件，以便使电子部件具有用于测试的设定温度；测试室，用于测试完成预冷却或预加热的电子部件；去浸泡室，用于将完成测试的电子部件的温度恢复至预先设定的水平，去浸泡室包括流动路径，流动路径具有第一入口、出口以及邻近出口的第二入口，流动路径形成在去浸泡室的一个侧壁内部；循环单元，用于沿流动路径循环去浸泡室中的空气；以及卸载单元，用于卸载具有恢复至预先设定的水平的温度的电子部件。

本申请为于2015年06月23日提交的、题为“测试分选机”的第201510349439.X号中国专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及测试分选机。

背景技术

测试分选机是这样一种设备，其支持用于通过预先确定的制造过程制造的诸如半导体装置的电子元件的测试，根据测试结果对电子部件按等级分类，并且将分类的电子部件装载在客户托盘上。

图1是根据由申请人提交的第10-2013-0105265号韩国专利公开的测试分选机300的(以下简称为现有技术)平面图。参照附图，测试分选机300可配置成包括装载单元320、浸泡室330、去浸泡(de-soak)室350、以及卸载单元380。

测试托盘310可以包括多个插入件，电子部件可安全地置于该多个插入件中，并且可沿由多个传输系统(未示出)限定的闭合路径C循环。

装载单元320在定位在装载位置的测试托盘上装载未测试的电子部件，未测试的电子部件被装载在客户托盘(未示出)上。

浸泡室330可在测试前预加热或预冷却装载在所传输的测试托盘310上的电子部件，以使电子部件具有用于测试的预先设定的温度。

测试室340可测试装载于在浸泡室330中预加热或预冷却之后传送至测试位置的测试托盘310上的电子部件。

去浸泡室350可冷却装载在从测试室340传送的测试托盘310上的、完成测试条件的电子部件，以使电子部件具有室温或在卸载时不会出现问题的温度。可替代地，去浸泡室350可加热完成测试条件的电子部件，以使电子部件具有室温或不会产生冷凝的温度。

卸载单元380可根据测试结果按等级对来自位于卸载位置的测试托盘310的电子部件分类，并且可将分类后的电子部件卸载在空的客户托盘上。

如上所述，电子部件可在装载在测试托盘310的状态下沿闭合路径‘C’循环，其中，闭合路径‘C’按顺序从浸泡室330、测试室340、去浸泡室350、卸载位置和装载位置再次连接至浸泡室330。

实际上，测试分选机300可设置有沿闭合路径C循环的多个测试托盘310。如上所述，在测试前，浸泡室330可将电子部件设置为符合测试条件的温度。在完成测试后，去浸泡室350可在卸载之前将电子部件的温度恢复成预先设定的水平。利用该配置，提高了测试装置和卸载单元380的操作速度，并最终提高了该设备的处理能力。

具体地，当在低温进行测试的电子部件被直接发送到卸载位置时，水分可通过室温空气在电子部件的表面上凝结，可导致损坏电子部件。而且，当卸载单元380夹持电子部件时，可在电子部件的表面上留下焊盘标记。另外，当在高温进行测试的电子部件被直接发送到卸载位置时，卸载单元380的焊盘可通过电子部件中剩余的热量进行熔化或粘附。因此，有必要设置如上的去浸泡室350，以便将测试后的电子部件恢复至室温或预定温度。