[发明专利]物体尺寸测量方法、装置和系统

权利要求书

1.一种物体尺寸测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

通过相机采集标定板在测量平台上不同位置的多张标定图像；

根据所述多张标定图像确定所述相机的拍摄参数，并根据所述拍摄参数计算与单位像素对应的物理长度；

通过所述相机采集待测物体的初始图像，并根据所述拍摄参数对所述初始图像进行矫正处理生成目标图像；

应用预设算法从所述目标图像中提取与目标轮廓对应的目标像素，并计算所述目标像素的数量；

根据所述目标像素的数量以及与所述单位像素对应的物理长度，计算所述待测物体的尺寸信息。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述拍摄参数对所述初始图像进行矫正处理生成目标图像，包括：

根据所述拍摄参数对所述待测物体进行物体畸变矫正处理，

和/或，

根据所述拍摄参数对所述待测物体进行平面投影矫正处理。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述应用预设算法从所述目标图像中提取与目标轮廓对应的目标像素，包括：

根据预设算法和设置阈值对所述目标图像进行边缘检测，获取与目标轮廓对应的目标像素。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据预设算法和设置阈值对所述目标图像进行边缘检测，包括：

若检测到非闭合边缘，则采取闭合算法进行连通边缘；

若检测到边缘存在毛刺点或者噪点，采取拟合的算法进行拟合过滤掉噪点或者毛刺点。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测物体为密封圈；

所述根据所述拍摄参数对所述初始图像进行矫正处理生成目标图像，包括：

根据所述拍摄参数对所述初始图像进行畸变矫正处理后，并根据所述密封圈的内圈平面进行投影生成第一目标图像，以及根据所述密封圈的内圈平面进行投影生成第二目标图像；

所述应用预设算法从所述目标图像中提取与目标轮廓对应的目标像素，并计算所述目标像素的数量，包括：

应用预设算法从所述第一目标图像中提取与密封圈内圈轮廓对应的内圈轮廓像素，并计算内圈轮廓像素数量；

应用预设算法从所述第二目标图像中提取与密封圈外圈轮廓对应的外圈轮廓像素，并计算外圈轮廓像素数量；

所述根据所述目标像素的数量以及与所述单位像素对应的物理长度，计算所述待测物体的尺寸信息，包括：

根据所述内圈轮廓像素数量以及与所述单位像素对应的物理长度，计算所述密封圈的内圈周长和内径长度；

根据所述外圈轮廓像素数量以及与所述单位像素对应的物理长度，计算所述密封圈的外圈周长和外径长度。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述计算所述待测物体的尺寸信息之后，还包括：

与预设的标准设计尺寸进行对比，在应用界面显示测试结果。

7.如权利要求1-6任一所述的方法，其特征在于，在所述计算所述待测物体的尺寸信息之后，还包括：

对多组所述待测物体的尺寸信息进行数据分析；

根据分析结果确定生成所述待测物体的测评报告进行显示。

8.一种物体尺寸测量装置，其特征在于，包括：

采集模块，用于通过相机采集标定板在测量平台上不同位置的多张标定图像；

第一计算模块，用于根据所述多张标定图像确定所述相机的拍摄参数，并根据所述拍摄参数计算与单位像素对应的物理长度；

生成模块，用于通过所述相机采集待测物体的初始图像，并根据所述拍摄参数对所述初始图像进行矫正处理生成目标图像；

第二计算模块，用于应用预设算法从所述目标图像中提取与目标轮廓对应的目标像素，并计算所述目标像素的数量；

第三计算模块，用于根据所述目标像素的数量以及与所述单位像素对应的物理长度，计算所述待测物体的尺寸信息。