[发明专利]基于变温下热寿命损耗的母线槽寿命预测方法

说明书

本发明公开了一种基于变温下热寿命损耗的母线槽寿命预测方法，其包括以下步骤：S1、以母线槽绝缘材料的断裂伸长率作为试验参数进行恒温热老化试验，得到恒温下母线槽绝缘材料的试验寿命及对应的温度值；S2、根据最小二乘法拟合恒温下母线槽的试验寿命及对应的温度值，得到母线槽绝缘材料的寿命预测公式；S3、根据母线槽绝缘材料的寿命预测公式得到一个温度周期内母线槽绝缘材料正常使用下的总寿命损耗；S4、根据一个温度周期内母线槽绝缘材料的总寿命损耗预测母线槽寿命。可以准确的预测母线槽绝缘材料在不同温度环境下的剩余寿命，有效消除因母线槽绝缘材料老化而存在的安全隐患，提高使用安全性。

技术领域

本发明涉及材料寿命预测领域，具体涉及基于变温下热寿命损耗的母线槽寿命预测方法。

背景技术

绝缘系统是电气设备安全运行中重要的一环，出于对经济和安全的考虑，必须对绝缘系统进行寿命预测。随着国民经济的大力发展，各行各业的用电量大量增加，随着高层建筑和大型车间及厂房的大量出现，传统电缆在目前的大电流中已不能满足要求，多路电缆的并联运用给实际使用造成诸多不便。因此，母线槽已开始在实际生活中广泛运用。母线槽作为电力系统的组成部分，受到热、电、机械等因素的影响，绝缘性能会不可逆的下降，母线槽最终会因此失效。因此，为保证母线槽安全可靠的运行，对其绝缘寿命的准确预测显得尤为重要。

发明内容

针对现有技术中的上述不足，本发明提供的基于变温下热寿命损耗的母线槽寿命预测方法实现了对母线槽绝缘寿命的准确预测。

为了达到上述发明目的，本发明采用的技术方案为：

提供一种基于变温下热寿命损耗的母线槽寿命预测方法，其包括以下步骤：

S1、以母线槽绝缘材料的断裂伸长率作为试验参数进行恒温热老化试验，得到恒温下母线槽绝缘材料的试验寿命及对应的温度值；

S2、根据最小二乘法拟合恒温下母线槽的试验寿命及对应的温度值，得到母线槽绝缘材料的寿命预测公式；

S3、根据母线槽绝缘材料的寿命预测公式得到一个温度周期内母线槽绝缘材料正常使用下的总寿命损耗；

S4、根据一个温度周期内母线槽绝缘材料的总寿命损耗预测母线槽寿命。

进一步地，步骤S1的具体方法为：

S1-1、选取母线槽绝缘材料原始断裂伸长率的50％作为母线槽的寿命点，其中母线槽绝缘材料为符合阿里乌斯定律的高分子绝缘材料；

S1-2、对同一母线槽绝缘材料进行恒温热老化试验，记录第j个母线槽绝缘材料在k温度下的断裂伸长率达到50％时的对应时间L_jk。

进一步地，步骤S2的具体方法为：

根据至少同一母线槽绝缘材料的三组温度k及对应的时间L_jk，利用最小二乘法拟合公式

得到常数B和常数C，进而得到该母线槽绝缘材料的寿命预测公式；其中T表示母线槽绝缘材料的温度且k∈T，L表示母线槽绝缘材料的预测寿命且L_jk∈L。

进一步地，步骤S3的具体方法为：

S3-1、在一个温度周期z内每隔x时长采集一次母线槽绝缘材料在正常使用下的温度；

S3-2、以y摄氏度为温度间隔作为恒温时间段，获取母线槽绝缘材料正常工作下一个温度周期z内的恒温次数n、每个恒温时间段的时长t_v及每个恒温时间段的温度平均值T_v，其中v表示第v次恒温时间段且v∈n；

S3-3、根据公式