[发明专利]用于对被测设备执行微放电测试的测试系统以及用于测试被测设备的方法

说明书

描述了一种测试系统，其中，所述测试系统被配置为对被测设备执行微放电测试。所述测试系统包括：信号生成单元，其被配置为刺激所述被测设备的输入；接收单元，其被配置为接收并测量所述被测设备的至少一个输出信号，以便获得与微放电发生相关的数据。所述信号生成单元和所述接收单元被控制使得两个单元被同时操作。所述信号生成单元被配置为生成用于刺激所述输入的测试信号，所述测试信号同时包括至少两个载波。此外，描述了一种用于测试被测设备的方法。

技术领域

本发明涉及一种用于对被测设备执行微放电(multipaction)测试的测试系统以及一种用于测试被测设备的方法。

背景技术

在现有技术中，卫星(特别是其有效载荷)的发射前测试是已知的，其中，多个不同的测试被执行。已经证明，微放电发生是在卫星的发射前测试期间必须被执行的另一测试项，其中，这些测试通常被执行在热真空室(TVAC)内部。

微放电(微放电效应)是在真空条件下的电子谐振效应，真空条件例如当局部射频场加速电子使得这些电子与表面碰撞时的空间。如果这些电子的能量足够高，则它们与表面的碰撞将导致所谓的次级电子的释放。新释放的次级电子中的每个都遵循初始电子的相同模式。因此，这可能导致电子的数量的指数级上升，特别是在持续倍增的情况下，因为次级电子发射与交流电场谐振导致电子的指数级倍增。

在射频空间系统中，微放电效应可以通过增加由次级电子生成的噪声而导致射频信号的退化。此外，如果局部射频功率由于电子的数量上升而增加，则将会发生对空间系统的射频部件或子系统的损坏。

一般来说，微放电效应是发生在其中高电场强度普遍的器件中的现象，这种器件例如为高功率行波管放大器(TWTA)、高功率波导以及诸如双工器和滤波器的波导部件。然而，微放电需要为最小，并且针对边界进行测试。

在热真空室内部对卫星进行预发射测试期间，电子的数量的指数级上升可能导致操作失败。另外，这种微放电可能会损坏甚至毁坏卫星和/或测试系统的射频部件。

因此，需要一种测试方法以及测试系统，其确保在测试期间正常工作而不损坏测试部件或被测设备。

发明内容

本发明提供了一种测试系统，其中，所述测试系统被配置为对被测设备执行微放电测试，所述测试系统包括：

信号生成单元，其被配置为刺激所述被测设备的输入，

接收单元，其被配置为接收并测量所述被测设备的至少一个输出信号，以便获得与微放电发生相关的数据，

所述信号生成单元和所述接收单元被控制，使得两个单元被同时操作，

所述信号生成单元被配置为生成用于刺激所述输入的测试信号，所述测试信号同时包括至少两个载波。

本发明还提供了一种用于测试被测设备的方法，其中，利用以下步骤执行微放电测试：

-生成用于刺激所述被测设备的输入的测试信号，所述测试信号由信号生成单元生成，

-通过使用接收单元接收并测量所述被测设备的至少一个输出信号，其中，

所述信号生成单元和所述接收单元被同时操作，所述信号生成单元生成同时包括至少两个载波的测试信号。