[发明专利]一种哈特曼波前传感器自动对准方法有效
| 申请号: | 201810071020.6 | 申请日: | 2018-01-25 |
| 公开(公告)号: | CN108287025B | 公开(公告)日: | 2020-01-03 |
| 发明(设计)人: | 杨泽平;李恩德;凡木文;施宁平;魏凌 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号: | G01J9/00 | 分类号: | G01J9/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 哈特曼波前传感器 自动对准装置 电动调整 哈特曼波前探测器 控制器调节 有效性信息 控制调整 倾斜调整 三维平移 显示调整 自动对准 二维 光瞳 五维 直观 自动化 | ||
1.一种哈特曼波前传感器自动对准方法,利用哈特曼波前传感器自动对准装置,包括哈特曼波前传感器(1)、五维电动调整架(2)、调整架控制器(3)和计算机(4),五维电动调整架(2)能够X、Y、Z三维的平移调整和绕X、Y轴的二维旋转调节,即X、Y方向的倾斜,哈特曼波前传感器(1)固定在五维电动调整架(2)上,计算机(4)通过获取光瞳在哈特曼波前传感器(1)上的斜率和有效性信息,计算调节量并控制调整架控制器(3)调节五维电动调整架,实现哈特曼波前传感器(1)的自动对准,其特征在于,包括自动对准的步骤如下:
1)将固定在五维电动调整架(2)上的哈特曼波前传感器(1)放置到待测量光的合适位置,在X方向与Y方向,使待测量光照射到哈特曼波前传感器(1)上,并在Z方向使哈特曼波前传感器在待测量波前的共轭位置;
2)令哈特曼波前传感器(1)的子孔径有N行,M列,x(m,n),y(m,n),m=1,2,3,...,M,n=1,2,3,...N分别为哈特曼波前传感器(1)坐标为(m,n)的子孔径的X和Y方向中心位置,位于哈特曼波前传感器(1)定义的光轴处的子孔径的x(m,n)和y(m,n)均为0;计算机(4)读取哈特曼波前传感器(1)的所有子孔径的斜率和有效性信息Sx(m,n),Sy(m,n),V(m,n),m=1,2,3,...M,n=1,2,3,...,N,其中,Sx(m,n)和Sy(m,n)分别为坐标为(m,n)的子孔径X和Y方向的斜率,V(m,n)为坐标为(m,n)的子孔径的有效性,值为1表示有效,为0表示无效,计算X和Y方向的光轴中心Px和Py:
3)若|Px|<αx且|Py|<αy,则跳转到步骤6),其中αx和αy分别为光轴X和Y方向光轴中心对准精度;
4)计算X、Y方向的平移调节量Δx和Δy:
Δx=-k1Px,Δy=-K2Py (2)
其中k1和k2为调节系数,由五维电动调整架(2)和调整架控制器(3)的特性决定;
5)计算机(4)发送X、Y方向的平移调节量Δx和Δy给调整架控制器(3),控制五维电动调节架的X和Y方向分别移动Δx和Δy;
6)计算机(4)读取哈特曼波前传感器(1)的斜率和有效性信息并计算X和Y方向的平均光轴倾斜角Tx和Ty:
7)若|Tx|<βx且|Ty|<βy,则跳转到步骤11),其中βx和βy分别为光轴X和Y方向光轴倾斜对准精度;
8)计算X、Y方向的倾斜调节量ΔTx和ΔTy:
ΔTx=-k3Tx,ΔTy=-k4Ty (4)
其中k3和k4为调节系数,由五维电动调整架(2)和调整架控制器(3)的特性决定;
9)计算机(4)发送X、Y方向的倾斜调节量ΔTx和ΔTy给调整架控制器(3),控制五维电动调节架(2)的X和Y方向分别倾斜ΔTx和ΔTy;
10)计算机(4)读取哈特曼波前传感器(1)的斜率和有效性信息并按公式(1)计算X和Y方向的光轴中心Px和Py,若|Px|<αx且|Py|<αy则转到步骤11),否则跳转到步骤4);
11)计算机(4)发送Z方向的平移量Δz给调整架控制器(3),控制五维电动调整架(1)在Z方向平移Δz;
12)计算机(4)读取哈特曼波前传感器(1)的斜率和有效性信息并按公式(1)计算X和Y方向的光轴中心Px和Py;
13)计算机(4)发送Z方向的平移量-Δz给调整架控制器(3),控制五维电动调整架(1)在Z方向平移-Δz;
14)若|Px|<αx且|Py|<αy,自动对准结束;
15)计算机(4)读取哈特曼波前传感器(1)的斜率和有效性信息并计算X、Y方向的倾斜调节量ΔTx和ΔTy:
ΔTx=sgn(Px)·Kx,ΔTy=sgn(Py)·Ky
其中sgn(·)为符号函数,Kx和Ky分别为哈特曼波前传感器的子孔径在X和Y方向的动态范围;
16)发送X、Y方向的倾斜调节量ΔTx和ΔTy给调整架控制器(3),控制五维电动调节架(1)的X和Y方向分别倾斜ΔTx和ΔTy;
17)跳转到步骤2)。
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