[发明专利]一种哈特曼波前传感器自动对准方法有效

专利信息
申请号: 201810071020.6 申请日: 2018-01-25
公开(公告)号: CN108287025B 公开(公告)日: 2020-01-03
发明(设计)人: 杨泽平;李恩德;凡木文;施宁平;魏凌 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 哈特曼波前传感器 自动对准装置 电动调整 哈特曼波前探测器 控制器调节 有效性信息 控制调整 倾斜调整 三维平移 显示调整 自动对准 二维 光瞳 五维 直观 自动化
【权利要求书】:

1.一种哈特曼波前传感器自动对准方法,利用哈特曼波前传感器自动对准装置,包括哈特曼波前传感器(1)、五维电动调整架(2)、调整架控制器(3)和计算机(4),五维电动调整架(2)能够X、Y、Z三维的平移调整和绕X、Y轴的二维旋转调节,即X、Y方向的倾斜,哈特曼波前传感器(1)固定在五维电动调整架(2)上,计算机(4)通过获取光瞳在哈特曼波前传感器(1)上的斜率和有效性信息,计算调节量并控制调整架控制器(3)调节五维电动调整架,实现哈特曼波前传感器(1)的自动对准,其特征在于,包括自动对准的步骤如下:

1)将固定在五维电动调整架(2)上的哈特曼波前传感器(1)放置到待测量光的合适位置,在X方向与Y方向,使待测量光照射到哈特曼波前传感器(1)上,并在Z方向使哈特曼波前传感器在待测量波前的共轭位置;

2)令哈特曼波前传感器(1)的子孔径有N行,M列,x(m,n),y(m,n),m=1,2,3,...,M,n=1,2,3,...N分别为哈特曼波前传感器(1)坐标为(m,n)的子孔径的X和Y方向中心位置,位于哈特曼波前传感器(1)定义的光轴处的子孔径的x(m,n)和y(m,n)均为0;计算机(4)读取哈特曼波前传感器(1)的所有子孔径的斜率和有效性信息Sx(m,n),Sy(m,n),V(m,n),m=1,2,3,...M,n=1,2,3,...,N,其中,Sx(m,n)和Sy(m,n)分别为坐标为(m,n)的子孔径X和Y方向的斜率,V(m,n)为坐标为(m,n)的子孔径的有效性,值为1表示有效,为0表示无效,计算X和Y方向的光轴中心Px和Py

3)若|Px|<αx且|Py|<αy,则跳转到步骤6),其中αx和αy分别为光轴X和Y方向光轴中心对准精度;

4)计算X、Y方向的平移调节量Δx和Δy:

Δx=-k1Px,Δy=-K2Py (2)

其中k1和k2为调节系数,由五维电动调整架(2)和调整架控制器(3)的特性决定;

5)计算机(4)发送X、Y方向的平移调节量Δx和Δy给调整架控制器(3),控制五维电动调节架的X和Y方向分别移动Δx和Δy;

6)计算机(4)读取哈特曼波前传感器(1)的斜率和有效性信息并计算X和Y方向的平均光轴倾斜角Tx和Ty

7)若|Tx|<βx且|Ty|<βy,则跳转到步骤11),其中βx和βy分别为光轴X和Y方向光轴倾斜对准精度;

8)计算X、Y方向的倾斜调节量ΔTx和ΔTy

ΔTx=-k3Tx,ΔTy=-k4Ty (4)

其中k3和k4为调节系数,由五维电动调整架(2)和调整架控制器(3)的特性决定;

9)计算机(4)发送X、Y方向的倾斜调节量ΔTx和ΔTy给调整架控制器(3),控制五维电动调节架(2)的X和Y方向分别倾斜ΔTx和ΔTy

10)计算机(4)读取哈特曼波前传感器(1)的斜率和有效性信息并按公式(1)计算X和Y方向的光轴中心Px和Py,若|Px|<αx且|Py|<αy则转到步骤11),否则跳转到步骤4);

11)计算机(4)发送Z方向的平移量Δz给调整架控制器(3),控制五维电动调整架(1)在Z方向平移Δz;

12)计算机(4)读取哈特曼波前传感器(1)的斜率和有效性信息并按公式(1)计算X和Y方向的光轴中心Px和Py

13)计算机(4)发送Z方向的平移量-Δz给调整架控制器(3),控制五维电动调整架(1)在Z方向平移-Δz;

14)若|Px|<αx且|Py|<αy,自动对准结束;

15)计算机(4)读取哈特曼波前传感器(1)的斜率和有效性信息并计算X、Y方向的倾斜调节量ΔTx和ΔTy

ΔTx=sgn(Px)·Kx,ΔTy=sgn(Py)·Ky

其中sgn(·)为符号函数,Kx和Ky分别为哈特曼波前传感器的子孔径在X和Y方向的动态范围;

16)发送X、Y方向的倾斜调节量ΔTx和ΔTy给调整架控制器(3),控制五维电动调节架(1)的X和Y方向分别倾斜ΔTx和ΔTy

17)跳转到步骤2)。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810071020.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top