[发明专利]一种三相电检测电路及方法

权利要求书

1.一种三相电检测电路，其特点在于，包括：

第一二极管、第一电阻、第二二极管、第一光耦合器、第二电阻、第一电容、第三电阻、第一上拉电源、第三二极管、第四电阻、第四二极管、第二光耦合器、第五电阻、第二电容、第六电阻和第二上拉电源；

所述第一二极管的一端与所述三相电中的第一相电连接，所述第一二极管的另一端与所述第一电阻的一端电连接，所述第一电阻的另一端与所述第二二极管的负极电连接，所述第一光耦合器的发光器件并联在所述第二二极管两端，所述第一光耦合器的光敏器件的第一输出端分别与所述第二电阻、所述第一电容和所述第三电阻的一端电连接，所述第三电阻的另一端与所述第一上拉电源连接，所述第一光耦合器的光敏器件的第二输出端与所述第一电容的另一端电连接；

所述第三二极管的一端与所述三相电中的第二相电连接，所述第三二极管的另一端与所述第四电阻的一端电连接，所述第四电阻的另一端与所述第四二极管的负极电连接，所述第二光耦合器的发光器件并联在所述第四二极管两端，所述第二光耦合器的光敏器件的第一输出端分别与所述第五电阻、所述第二电容和所述第六电阻的一端电连接，所述第六电阻的另一端与所述第二上拉电源连接，所述第二光耦合器的光敏器件的第二输出端与所述第二电容的另一端电连接。

2.根据权利要求1所述的三相电检测电路，其特征在于，所述第一光耦合器的光敏器件的第二输出端接地。

3.根据权利要求2所述的三相电检测电路，其特征在于，所述第二光耦合器的光敏器件的第二输出端接地。

4.根据权利要求3所述的三相电检测电路，其特征在于，所述第一上拉电源为5V。

5.根据权利要求4所述的三相电检测电路，其特征在于，所述第二上拉电源为5V。

6.一种三相电检测方法，基于权利要求1至5所述的三相电检测电路，其特点在于，包括：

获取到所述第二电阻的另一端在第一预设时间内的第一电平；

获取到所述第五电阻的另一端在第一预设时间内的第二电平；

获取到所述第一电平由高电平变为低电平的第一时间点；

获取到所述第二电平由高电平变为低电平的第二时间点；

若所述第一时间点与所述第二时间点的间隔为第一预设时间段，则所述三相电中的第一相与所述三相电中的第二相错相。

7.根据权利要求6所述的三相电检测方法，其特征在于，还包括：

若所述第一时间点与所述第二时间点的间隔为第二预设时间段，则所述三相电中的第一相与所述三相电中的第二相相序正常。

8.根据权利要求7所述的三相电检测方法，其特征在于，

所述第一预设时间段为11.11ms或13.33ms。

9.根据权利要求8所述的三相电检测方法，其特征在于，

所述第二预设时间段为5.55ms或6.66ms。

10.根据权利要求9所述的三相电检测方法，其特征在于，还包括：

若未获取到所述第一电平由高电平变为低电平的第一时间点，则所述三相电中的第一相缺相；

若未获取到所述第二电平由高电平变为低电平的第二时间点，则所述三相电中的第二相缺相。