[发明专利]高度精密检测机

说明书

本发明公开了一种高度精密检测机，包括底架、设置于底架用于承载测量工件的载料座、及悬设于载料座上方的高度测量头，载料座在纵向驱动装置的驱动下相对底架纵向移动以靠近或远离高度测量头，高度测量头在横向驱动装置的驱动下相对底架横向移动，并在竖向驱动装置的驱动下相对底架竖向移动；高度精密检测机还包括控制装置，控制装置用于控制纵向驱动装置、横向驱动装置、及竖向驱动装置动作，且控制装置连接于高度测量头以获取高度精密检测机的测量数据并进行计算测量工件的高度值。根据本发明提供的高度精密检测机，保证测量精度的同时提高测量效率。

技术领域

本发明涉及制造行业中的一种检测设备，尤其是涉及一种高度检测机。

背景技术

目前，制造行业中对产品的尺寸精度要求越来越高，同时对测量效率亦要求越来越高。常规的卡尺、高度规等测量精度较低，而测量精度较高的二次元、三次元等测量效率较低。专为高度测量的高度测量传感器，虽然其本身测量较高，但是在实际测量过程中并不能排除测量干扰因素，导致其测量精度相较生产需求亦有一定的差距，测量效率亦较低。

为此，有必要提供一种高精度且高效率的高度精密检测机，以满足制造需求。

发明内容

本发明的目的是提供一种高精度且高效率的高度精密检测机，以满足制造需求。

为了实现上述目的，本发明公开了一种高度精密检测机，包括底架、设置于所述底架用于承载测量工件的载料座、及悬设于所述载料座上方的高度测量头，所述载料座在纵向驱动装置的驱动下相对所述底架纵向移动以靠近或远离所述高度测量头，所述高度测量头在横向驱动装置的驱动下相对所述底架横向移动，并在竖向驱动装置的驱动下相对所述底架竖向移动；所述高度精密检测机还包括控制装置，所述控制装置用于控制所述纵向驱动装置、所述横向驱动装置、及所述竖向驱动装置动作，且所述控制装置连接于所述高度测量头以获取所述高度精密检测机的测量数据并计算测量工件的高度值。

与现有技术相比，本发明提供的高度精密检测机，以高度尺寸确定的载料座承载测量工件以保证测量精度，通过由控制装置控制的纵向驱动装置驱动载料座纵向移动以靠近或远离高度测量头、横向驱动装置和竖向驱动装置驱动高度测量头于横向和竖向移动，从而使得高度测量头可以快速测量测量工件的高度值，而后经由控制装置获取高度测量头的测量数据进而计算测量工件的高度值，以满足生产中对高度测量的高精度且高效率的需求。根据本发明提供的高度精密检测机，通过控制装置控制横向驱动装置、纵向驱动装置、竖向驱动装置实现测量工件和高度测量头的相对移动以保证测量效率，通过高度尺寸确定的载料座承载测量工件以保证测量精度，在控制装置的控制下实现对测量工件的自动检测，减少干涉误差同时提高测量效率。

较佳的，所述载料座朝向所述高度测量头的上侧设置有测量工件承载位和基准平面；于载料座设置基准平面，因而高度检测头通过分别碰触位于测量工件承载位处的测量工件和基准平面，即可以准确获得测量工件的高度，进一步提高测量精度。

具体的，所述高度测量头在所述控制装置控制下依次测量所述基准平面和承载于所述测量工件承载位的测量工件的高度。

具体的，所述基准平面位于所述测量工件承载位横向外侧；由于基准平面位于测量工件承载位横向外侧，因而高度测量头测量基准平面高度和测量工件承载位处的测量工件高度的过程中，载料座无需相对底架纵向移动、横向驱动装置驱动高度测量头横向移动至测量工件承载位横向外侧的基准平面即可，从而有效提高测量效率。

较佳的，所述底架的一侧横向设置有龙门支撑架，所述高度测量头滑动连接于所述龙门支撑架的横梁并在所述横向驱动装置的驱动下沿所述横梁横向移动。

较佳的，所述载料座和所述底架设置有所述高度测量头的一侧之间卡设有弹性件。

较佳的，所述高度精密检测机还包括显示屏，所述显示屏连接于所述控制装置并显示测量工件高速传输与高速计算的高度测量值。