[发明专利]产品表面缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 201810063199.0 申请日: 2018-01-17
公开(公告)号: CN108154510A 公开(公告)日: 2018-06-12
发明(设计)人: 段斌;何岗;魏浪;谢煜;张双诚 申请(专利权)人: 深圳市亿图视觉自动化技术有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/187;G06T7/62;G06T5/30;G01N21/88
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳市龙岗区布*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 产品表面 灰度图像 平均灰度 连通域 计算机可读存储介质 产品表面缺陷 二值化图像 连通域标记 纹理图像 二值化 预设 图像 二值化处理 膨胀处理 偏差计算 缺陷位置 检测 减小 漏检 腐蚀
【权利要求书】:

1.一种产品表面缺陷检测方法,其特征在于,包括:

获取产品表面的图像;

计算所述图像的局部墒,获取所述产品表面的纹理图像;

对所述纹理图像进行腐蚀、膨胀处理,得到凸显出缺陷的灰度图像;

计算所述灰度图像的平均灰度值,根据所述平均灰度值和预设的平均灰度值偏差计算出二值化阈值;其中,所述二值化阈值等于所述平均灰度值与所述预设的平均灰度值偏差之差;

采用所述二值化阈值对所述灰度图像进行二值化处理,得到所述产品表面的二值化图像;

对所述二值化图像进行连通域标记,计算出标记的各连通域的面积;

分别将各连通域的面积与预设的缺陷面积阈值相比较,若所述连通域的面积大于所述缺陷面积阈值,则将所述连通域标记为缺陷位置。

2.如权利要求1所述的产品表面缺陷检测方法,其特征在于,所述计算所述图像的局部墒,获取所述产品表面的纹理图像包括:

选取预设大小的滑动窗口按照先行后列的方式遍历所述图像,依次计算各滑动窗口的墒,在计算第i+1个滑动窗口的墒时,采用第i个滑动窗口的灰度直方图减去第i个滑动窗口中第一列像素点的灰度值概率,并加上第i+1个滑动窗口中最后一列像素点的灰度值概率,得到所述第i+1个滑动窗口的墒,其中i为正整数。

3.如权利要求1所述的产品表面缺陷检测方法,其特征在于,对所述纹理图像进行腐蚀、膨胀处理,得到凸显出缺陷的灰度图像具体包括:

采用预设的腐蚀卷积核扫描所述纹理图像,用所述腐蚀卷积核所覆盖区域的最小像素值代替锚点位置的像素,得到腐蚀后的纹理图像;

采用预设的膨胀卷积核扫描所述腐蚀后的纹理图像,用所述膨胀卷积核所覆盖区域的最大像素值代替锚点位置的像素,得到凸显出缺陷的灰度图像。

4.如权利要求1所述的产品表面缺陷检测方法,其特征在于,所述对所述二值化图像进行连通域标记包括:

逐行扫描所述二值化图像,将每一行中连续的白色像素组成一个序列称为一个连通域,并记下它的起点、终点以及它所在的行号;

对除第一行外的所有行里的连通域,如果它与上一行中的所有连通域没有重合区域,则给它一个新的标号;如果它仅与上一行中一个连通域有重合区域,则将上一行的那个连通域的标号赋值给它;如果它与上一行的两个以上的连通域有重叠区域,则给当前连通域赋一个相连连通域的最小标号,并将上一行的这几个连通域的标记写入等价对;将等价对转换为等价序列,每一序列给一相同的标号;遍历起始连通域的标记,查找等价序列,给予它们新的标记,将每个连通域的标号填入标记图像中。

5.一种产品表面缺陷检测装置,其特征在于,包括:

图像采集单元,用于获取产品表面的图像;

局部墒计算单元,用于计算所述图像的局部墒,获取所述产品表面的纹理图像;

缺陷凸显处理单元,用于对所述纹理图像进行腐蚀、膨胀处理,得到凸显出缺陷的灰度图像;

二值化阈值获取单元,用于计算所述灰度图像的平均灰度值,根据所述平均灰度值和预设的平均灰度值偏差计算出二值化阈值;其中,所述二值化阈值等于所述平均灰度值与所述预设的平均灰度值偏差之差;

二值化处理单元,用于采用所述二值化阈值对所述灰度图像进行二值化处理,得到所述产品表面的二值化图像;

连通域标记单元,用于对所述二值化图像进行连通域标记,计算出标记的各连通域的面积;

缺陷标记单元,用于分别将各连通域的面积与预设的缺陷面积阈值相比较,若所述连通域的面积大于所述缺陷面积阈值,则将所述连通域标记为缺陷位置。

6.如权利要求5所述的产品表面缺陷检测装置,其特征在于,所述局部墒计算单元具体用于:

选取预设大小的滑动窗口按照先行后列的方式遍历所述图像,依次计算各滑动窗口的墒,在计算第i+1个滑动窗口的墒时,采用第i个滑动窗口的灰度直方图减去第i个滑动窗口中第一列像素点的灰度值概率,并加上第i+1个滑动窗口中最后一列像素点的灰度值概率,得到所述第i+1个滑动窗口的墒,其中i为正整数。

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