[发明专利]一种测试NVDIMM内存断电保护的方法及系统

说明书

本发明公开了一种测试NVDIMM内存断电保护的方法及系统，所述方法包括以下步骤：一、搭建电流侦测平台，将待测服务器与测试用的疲劳机连接；二、疲劳机调用执行程序Tesh.sh；三、执行程序将文件A复制到待测服务器的NVDIMM存储分区内，并命名为B，获取文件A的MD5值X；五、将待测服务器开机，获取系统下文件B的MD5值Z；六、判断Z值与X是否相等，如果Z＝X，则删除Z，将服务器关机、疲劳机断电；如果Z≠X，则输出FAIL。本发明能够实现自动测试NVDIMM数据保护功能，提高测试效率，方便调节测试次数，有效保证计算机产品的NVDIMM性能和安全。

技术领域

本发明涉及一种数据安全保护的测试方法，属于服务器技术领域，尤其涉及一种测试NVDIMM内存断电保护的方法及系统。

背景技术

内存是服务器等计算机产品的重要组成部件，用于暂存CPU中的运算数据以及与硬盘等外部存储器交换的数据。Dynamic Random Access Memory动态随机存取存储器缩写为DRAM是最为常见的系统内存。由于采用使用电容存储，DRAM只能将数据保持很短的时间。DRAM高速数据存取能力是其他存储设备所无法比拟的，但在异常掉电后会丢失全部数据，一旦遇到异常掉电，数据的安全性就会受到威胁。

NVDIMM是在普通内存条DRAM颗粒的基础上，加入flash颗粒，同时连接一个电容，当发生异常掉电时，电容给内存条供电，使DRAM中的数据转移到flash颗粒中；当系统再次上电开机时，再将flash颗粒中的数据转移回到 DRAM中，由此实现DRAM中的数据掉电不丢失。因此，可以将NVDIMM理解为是在一种集成了DRAM+非易失性内存芯片的内存条规格，能够在完全断电的时候依然保存完整内存数据，因此在解决DRAM掉电数据丢失问题的同时，仍然具有DRAM高速数据传输优势。

在计算机产品的NVDIMM生产和使用过程中均需要进行数据安全性检测，目前通常采用手动的检测方法，但是手动测试效率低，且测试次数有限，因此，急需一种能够自动测试NVDIMM数据保护功能的方法和系统。

如中国专利(申请公布号CN105550129A)公开了“一种基于NVDIMM的掉电保护系统与方法”，系统包括：断电触发模块与数据保护寄存器模块，断电触发模块获取电源模块的电平，根据电平的变化判断是否发生断电，如果是则直接触发NVDIMM进行掉电保护，同时数据保护寄存器模块在接收到操作系统的断电信号时记录断电状态，数据保护寄存器模块对NVDIMM的掉电保护结果状态进行记录，数据保护寄存器模块在接收到操作系统的恢复来电信号时根据记录的状态触发NVDIMM将掉电保护的数据拷贝至RAM。在要发生断电时不再通过CPU的ADR功能去转接触发NVDIMM进行掉电保护，数据保护记录通过寄存器实现，无需使用ADR与BIOS，通用性好，可以方便高效地令 NVDIMM进行掉电保护。该方法及系统虽然可以起到很好的数据保护作用，但对NVDIMM所应具有的安全保护性能无法进行有效的检测和验证。

发明内容

本发明提出一种测试NVDIMM内存断电保护的方法及系统，用于解决现有技术中针对NVDIMM仍然采用手动检测的方法，导致测试效率低且测试次数有限的问题。

本发明通过以下技术方案予以实现：

一种测试NVDIMM内存断电保护的方法，包括以下步骤：

一、搭建电流侦测平台，将待测服务器与测试用的疲劳机连接；

二、疲劳机调用执行程序Tesh.sh；

三、执行程序将文件A复制到待测服务器的NVDIMM存储分区内，并命名为B，获取文件A的MD5值X；

五、将待测服务器开机，获取系统下文件B的MD5值Z；

六、判断Z值与X是否相等，如果Z＝X，则删除Z，将服务器关机、疲劳机断电；如果Z≠X，则输出FAIL。