[发明专利]一种半导体器件的制备方法在审
申请号: | 201810058543.7 | 申请日: | 2018-01-22 |
公开(公告)号: | CN108281376A | 公开(公告)日: | 2018-07-13 |
发明(设计)人: | 季莲;叶赛;周剑秋;丁超 | 申请(专利权)人: | 南京工业大学 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L31/18 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 冯艳芬 |
地址: | 211800 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件结构 二维材料 缓冲层 半导体器件 衬底 热释放胶带 取下 蒸镀 沉积 制备 金属 沉积金属 多次循环 正面电极 背电极 上表面 下表面 去除 加热 生产成本 腐蚀 | ||
本发明公开了一种半导体器件的制备方法,包括:(1)提供一衬底;(2)在衬底上添加一层二维材料层;(3)在二维材料层上沉积缓冲层;(4)在缓冲层上沉积半导体器件结构;(5)在半导体器件结构上沉积金属Ni层;(6)用热释放胶带将二维材料以上的结构从二维材料层上取下,包括缓冲层、半导体器件结构和金属Ni层;(7)在缓冲层下表面蒸镀背电极;(8)通过加热取下热释放胶带;(9)用腐蚀的方法去除金属Ni层;(10)在半导体器件结构上表面蒸镀正面电极。本发明工艺简单,且衬底可以多次循环利用,降低太阳电池等半导体器件的生产成本。
技术领域
本发明涉及半导体器件技术领域,尤其涉及一种半导体器件的制备方法。
背景技术
一直以来,制约太阳能电池大规模应用的主要瓶颈是较低的光电转换效率和过高的成本,高效低能耗的太阳电池必然是未来发展的趋势。III-V化合物半导体太阳电池凭借着近乎完美的晶体质量和成熟的工艺条件,多年一直保持着多项太阳电池效率的记录。单结GaAs太阳电池最高转换效率达到28.2%,基于GaAs和InP材料的四结叠层太阳电池更实现了46%的光电转换效率。但是,由于高昂的制造成本,该类太阳电池目前仅应用于空间技术中。
要降低III-V化合物半导体太阳电池成本,一种方法是采用衬底剥离技术去除衬底,使其循环利用。III-V化合物半导体太阳电池一般采用金属有机物化学气相沉积或分子束外延的方法在GaAs(或InP)衬底上沉积电池材料,由于高的吸收系数电池材料的厚度仅为几微米,而衬底厚度为却是几百微米,如果能将衬底剥离下来重复利用,则电池成本可以大大降低。但是衬底剥离的工艺复杂,且剥离下来的衬底需要再次加工才能循环利用。同样其他在衬底上外延生长的半导体器件也存在以上问题,衬底很难剥离,也无法循环利用。
发明内容
发明目的:本发明针对现有技术存在的问题,提供一种半导体器件的制备方法,可以在沉积完半导体材料(例如太阳电池)后直接将其从衬底上取下来,工艺简单,且衬底可以多次循环利用,降低生产成本。
技术方案:本发明所述的半导体器件的制备方法包括:
(1)提供一衬底;
(2)在衬底上添加一层二维材料层;
(3)在二维材料层上沉积缓冲层;
(4)在缓冲层上沉积半导体器件结构;
(5)在半导体器件结构上沉积金属Ni层;
(6)用热释放胶带将二维材料以上的结构从二维材料层上取下,包括缓冲层、半导体器件结构和金属Ni层;
(7)在缓冲层下表面蒸镀背电极;
(8)通过加热取下热释放胶带;
(9)用腐蚀的方法去除金属Ni层;
(10)在半导体器件结构上表面蒸镀正面电极。
其中,所述衬底的材料与半导体器件的材料一致。
进一步的,所述沉积的方法为金属有机物化学气相沉积或分子束外延。所述蒸镀的方法为磁控溅射或电子束蒸发。
进一步的,所述二维材料优选为石墨烯,可以为单原子层、双原子层和三原子层中的任一种。
有益效果:本发明与现有技术相比,其显著优点是:
(1)本发明制备出的太阳电池等半导体器件厚度可以小于十微米,携带轻便且柔性可弯曲使用,拓展了太阳电池的应用范围。
(2)取下的衬底可循环利用,减少太阳电池等半导体器件所需要的材料成本,为太阳电池等半导体器件的大规模应用提供可靠的方案和技术保证。
附图说明
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造