[发明专利]缺陷检测方法及装置

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法包括：

获取原始图像；

从所述原始图像中获取待检测区域图像，其中，所述待检测区域图像包含缺陷区域；

计算所述待检测区域图像中像素指定邻域的灰度值方差，获取区域方差图像，其中，所述区域方差图像中像素的灰度值为该像素指定邻域的灰度值方差；

若所述区域方差图像中存在灰度值超过指定阈值的像素，则确定该像素所在位置为缺陷区域，并标记出该缺陷区域。

2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述从所述原始图像中获取待检测区域图像包括：

从所述原始图像中获取目标图像，其中，所述目标图像包含待检测物体；

统计所述目标图像的局部纹理灰度，并根据所述局部纹理灰度对所述目标图像进行二值化处理，以获取所述目标图像的二值化图像；

获取所述二值化图像中满足预设条件的像素组成的连通区域；

计算每个连通区域的面积，并过滤面积小于预设面积阈值的连通区域，以获取连通区域图像；

获取包含所述连通区域图像中所有连通区域的最小外界矩形，并根据所述最小外界矩形的位置信息，从所述原始图像中获取待检测区域图像。

3.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述统计所述目标图像的局部纹理灰度，并根据所述局部纹理灰度对所述目标图像进行二值化处理，以获取所述目标图像的二值化图像包括：

在所述目标图像中选取预设大小的图像区域，获取该区域的背景灰度；

通过遍历所述目标图像，获取所述目标图像的背景灰度矩阵；

将所述背景灰度矩阵扩展为大小与原始图像矩阵的大小相同的矩阵；

将所述原始图像矩阵与扩展后的背景灰度矩阵相减，获取调整图像，其中，所述调整图像是指将相减后的值作为相应像素的灰度值的图像；

消除所述调整图像中的噪声；

通过直方图均衡化处理消除噪声后的所述调整图像的灰度，获得校正图像；

对所述校正图像使用最大类间方差法获得灰度阈值；

将所述目标图像中每个像素的灰度值与所述灰度阈值进行比较，若像素的灰度值大于所述灰度阈值，则将该像素的灰度值设置为第一预设值，否则将该像素的灰度值设置为第二预设值。

4.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述计算每个连通区域的面积，并过滤面积小于预设面积阈值的连通区域，以获取连通区域图像包括：

计算每个连通区域的面积，保留面积大于预设面积阈值的连通区域；

对面积小于或等于预设面积阈值的连通区域进行区域填充，以获取连通区域图像。

5.如权利要求1至4任一项所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述计算所述待检测区域图像中像素指定邻域的灰度值方差，获取区域方差图像；

步骤一，获取所述待检测区域图像中像素N*N邻域内的灰度值，其中，N为大于零的整数；

步骤二，计算所述像素N*N邻域的灰度值方差；

步骤三，重复执行步骤一和步骤二，遍历所述待检测区域图像，获取区域方差图像。

6.一种缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置包括：

原始图像获取模块，用于获取原始图像；

区域图像获取模块，用于从所述原始图像中获取待检测区域图像，其中，所述待检测区域图像包含缺陷区域；

方差图像获取模块，用于计算所述待检测区域图像中像素指定邻域的灰度值方差，获取区域方差图像，其中，所述区域方差图像中像素的灰度值为该像素指定邻域的灰度值方差；

缺陷确定模块，用于若所述区域方差图像中存在灰度值超过指定阈值的像素，则确定该像素所在位置为缺陷区域，并标记出该缺陷区域。