[发明专利]一种确定储层岩石样品的有效单元体积的方法及装置有效
申请号: | 201810052805.9 | 申请日: | 2018-01-19 |
公开(公告)号: | CN108320307B | 公开(公告)日: | 2020-09-08 |
发明(设计)人: | 张天付;谢淑云;韦东晓;熊冉;李东;王莹 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/62 | 分类号: | G06T7/62;G01N15/08;G01B11/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;陈刚 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 确定 岩石 样品 有效 单元 体积 方法 装置 | ||
本申请实施例公开了一种确定储层岩石样品的有效单元体积的方法及装置。所述方法包括:生成二维灰度图像的二值化图像;确定二值化图像的分形盒维数;当多个二值化图像中分形盒维数满足指定条件的二值化图像的数量小于指定数量时,重新获取目的储层中的新的岩石样品,并得到新的岩石样品的新的三维灰度图像中多个新的二维灰度图像分别对应的新的二值化图像的分形盒维数,直至新的二值化图像中分形盒维数满足指定条件的新的二值化图像的数量大于或等于指定数量,并将新的岩石样品的体积作为目的储层的岩石样品的有效单元体积;其中,新的岩石样品的体积小于当前岩石样品的体积。可以有效确定储层岩石样品的有效单元体积。
技术领域
本申请涉及储层表征技术领域,特别涉及一种确定储层岩石样品的有效单元体积的方法及装置。
背景技术
储层表征是储层研究的基础手段,对于描述和刻画储层物性等基本属性有着重要意义。近年来,随着软硬件技术的发展,特别是高端仪器设备性能的提升,如场发射扫描电镜、微-纳米CT、双束激光扫描电镜等,使得微观储层表征在储层评价、储层成因研究中应用越来越广泛。
然而,一方面仪器性能的提升,观察视域越来越小,对应的样品尺寸也越来越小,如纳米CT、场发射电镜和双束激光扫描电镜等微纳米表征手段所需的样品大小多为微米级;另一方面,储层样品非均质性强,特别是与储层储集性能密切相关的孔-洞-缝系统复杂多变,尺寸跨度大,需要尽可能大的样品尺寸以有效代表宏观的地质样品,表征储层特征,使得微观储层表征过程中面临高分辨率小样品、大样品低分辨率的矛盾。解决这一矛盾常用的方法是多尺度-多方法联用,即取多种尺度的样品,利用多种方法,样品尺寸由大到小,分辨率由低到高,逐级分析。这种方法难以避免的缺点是:样品取样量多,各种尺度下均需取样;而且不同尺度样品的数据可能会相互干扰,不能串联,更不能明确哪种样品尺度以及对应的哪种数据更能反映样品特征。因此,有必要在多尺度下明确储层岩石样品的有效单元体积(REV,Representative Element Volume),以便利用最能代表样品特性的有效单元体积的岩石样品研究储层特征,即确定最能代表样品特性的岩石样品体积,表征储层宏观特征。然而,目前尚无有效确定储层岩石样品的有效单元体积的方法。
发明内容
本申请实施例的目的是提供一种确定储层岩石样品的有效单元体积的方法及装置,以有效确定储层岩石样品的有效单元体积。
为解决上述技术问题,本申请实施例提供一种确定储层岩石样品的有效单元体积的方法及装置是这样实现的:
一种确定储层岩石样品的有效单元体积的方法,提供有通过对目的储层中的当前岩石样品进行扫描得到的所述当前岩石样品的三维灰度图像;其中,对所述三维灰度图像进行切片处理得到多个二维灰度图像;所述方法包括:
生成所述二维灰度图像的二值化图像;
确定所述二值化图像的分形盒维数;
当所述多个二值化图像中分形盒维数满足指定条件的二值化图像的数量小于指定数量时,重新获取所述目的储层中的新的岩石样品,并得到所述新的岩石样品的新的三维灰度图像中多个新的二维灰度图像分别对应的新的二值化图像的分形盒维数,直至所述新的二值化图像中分形盒维数满足指定条件的新的二值化图像的数量大于或等于指定数量,并将所述新的岩石样品的体积作为所述目的储层的岩石样品的有效单元体积;其中,所述新的岩石样品的体积小于所述当前岩石样品的体积。
优选方案中,所述生成所述二维灰度图像的二值化图像,包括:
对所述二维灰度图像进行滤波处理;
对所述滤波后的二维灰度图像进行裁剪处理,以得到具有指定长度和指定宽度的目标灰度图像;
对所述目标灰度图像进行二值化处理,得到所述二值化图像。
优选方案中,所述方法还提供有所述三维灰度图像的分辨率;所述确定所述二值化图像的分形盒维数,包括:
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