[发明专利]一种全像信息读取装置及方法有效

专利信息
申请号: 201810046890.8 申请日: 2018-01-18
公开(公告)号: CN110060706B 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 傅建军;曹良才;汪秋芬 申请(专利权)人: 青岛泰谷光电工程技术有限公司
主分类号: G11B7/0065 分类号: G11B7/0065;G11B7/1353;G11B7/1372
代理公司: 北京市中联创和知识产权代理有限公司 11364 代理人: 卢玲;王影
地址: 266111 山东省青岛市高新区松*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 信息 读取 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种全像信息读取装置,其特征在于,包括:存储装置(110)、双频式光栅(160)、光侦测器(170)、致动器(162)、计算器(174)、控制器(176)、第一透镜(150)和第二透镜(152);

所述双频式光栅(160)耦合于所述存储装置(110)和光侦测器(170)之间,所述第一透镜(150)光学耦合于所述存储装置(110)和双频式光栅(160)之间,所述第二透镜(152)光学耦合于所述双频式光栅(160)和光侦测器(170)之间,所述控制器(176)分别与所述致动器(162)和计算器(174)电连接,所述致动器(162)和双频式光栅(160)电连接,所述计算器(174)和光侦测器(170)电连接;

所述存储装置(110)用于将读取光(L)转换为绕射光(D),并将所述绕射光(D)提供给所述双频式光栅(160);

所述双频式光栅(160)用于接受所述绕射光(D),并将所述绕射光(D)转换为带有不同频率的第一一阶绕射光(L1)与第二一阶绕射光(L2);

所述光侦测器(170)用于对接收的所述第一一阶绕射光(L1)与第二一阶绕射光(L2)在进行成像;

所述致动器(162)用于带动所述双频式光栅(160)沿所述第一透镜(150)的第一焦平面(P1)进行平移,在做为成像平面的光侦测器(170)的侦测面(172)上造成以倾斜方式射向所述光侦测器(170)的第一一阶绕射光(L1)以及第二一阶绕射光(L2)之间的波程差;

所述计算器(174)用于根据所述双频式光栅(160)移动前后的所述第一一阶绕射光(L1)与第二一阶绕射光(L2)的光强分布和波程差(Δψ),计算所述绕射光(D)的相位分布;

所述第一透镜(150)用于对由所述存储装置(110)提供的所述绕射光(D)进行聚焦;

所述第二透镜(152)用于将由所述双频式光栅(160)提供的所述第一一阶绕射光(L1)与第二一阶绕射光(L2)收敛至接近于相互平行。

2.根据权利要求1所述的全像信息读取装置,其特征在于,所述第一透镜(150)的第一焦平面(P1)与所述双频式光栅(160)所在平面相交;所述第二透镜(152)的第二焦平面(P2)与所述光侦测器(170)之侦侧面172所在平面相交;所述第二透镜(152)的前焦点(F)与所述第一焦平面(P1)相交。

3.根据权利要求1所述的全像信息读取装置,其特征在于,所述第一透镜(150)的第一焦平面(P1)与所述双频式光栅(160)所在平面重合;所述第二透镜(152)的第二焦平面(P2)与所述光侦测器(170)之侦侧面172所在平面重合;所述第二透镜(152)的前焦点(F)位于所述第一焦平面(P1)和所述双频式光栅(160)所在平面上。

4.根据权利要求2所述的全像信息读取装置,其特征在于,所述第一透镜(150)的第一透镜主光轴(A1)和所述第二透镜(152)的第二透镜主光轴(A2)相交。

5.根据权利要求4所述的全像信息读取装置,其特征在于,所述光侦测器(170)的法线与所述第二透镜(152)的第二透镜主光轴(A2)平行;所述双频式光栅(160)的法线与所述第一透镜(150)的第一透镜主光轴(A1)平行。

6.根据权利要求1-5中任意一项所述的全像信息读取装置,其特征在于,所述存储装置(110)为同轴存储装置(110A)或离轴存储装置(110B)中的任意一种。

7.根据权利要求1-5中任意一项所述的全像信息读取装置,其特征在于,所述致动器(162)为压电式致动器。

8.一种全像信息读取方法,其特征在于,采用权利要求1-6中任意一项所述的全像信息读取装置,通过如下步骤进行全像信息读取:

S1通过所述存储装置(110)将所述读取光(L)转换为所述绕射光(D);

S2通过所述第一透镜(150)使所述绕射光(D)在所述双频式光栅(160)上聚焦;

S3通过所述双频式光栅(160)将所述绕射光(D)转换为带有不同频率的所述第一一阶绕射光(L1)和第二一阶绕射光(L2);

S4通过所述第二透镜(152)使所述第一一阶绕射光(L1)和第二一阶绕射光(L2)相互接近于平行;

S5通过所述光侦测器(170)使所述第一一阶绕射光(L1)和第二一阶绕射光(L2)进行成像;

S6通过由所述致动器(162)带动所述双频式光栅(160)沿所述第一透镜(150)的第一焦平面(P1)进行平移,在做为成像平面的光侦测器(170)的侦测面(172)上造成以倾斜方式射向所述光侦测器(170)的第一一阶绕射光(L1)以及第二一阶绕射光(L2)之间的波程差;

S7通过所述计算器(174)根据所述双频式光栅(160)移动前后的所述第一一阶绕射光(L1)与第二一阶绕射光(L2)的光强分布和波程差(Δψ),计算所述绕射光(D)的相位分布。

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