[发明专利]一种硅基三维异构集成的射频微系统及其制造方法在审
| 申请号: | 201810034938.3 | 申请日: | 2018-01-15 |
| 公开(公告)号: | CN108083223A | 公开(公告)日: | 2018-05-29 |
| 发明(设计)人: | 陈雪平;王志宇;张勋;朱丹丹;田锋 | 申请(专利权)人: | 杭州臻镭微波技术有限公司 |
| 主分类号: | B81B7/00 | 分类号: | B81B7/00;B81C1/00 |
| 代理公司: | 杭州奥创知识产权代理有限公司 33272 | 代理人: | 王佳健 |
| 地址: | 310030 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 硅衬底层 射频 异构 射频系统 射频芯片 微系统 三维 硅基 蚀刻 芯片 射频滤波器 衬底材料 传输损耗 垂直互连 三维集成 射频功放 射频开关 低噪放 硅晶圆 硅通孔 互连线 晶圆级 微组装 堆叠 高阻 减小 键合 腔体 封装 制造 | ||
本发明公开了一种硅基三维异构集成的射频微系统及其制造方法,本发明中的系统包括第一硅衬底层、第二硅衬底层、第三硅衬底层、第四硅衬底层、射频功放芯片、射频低噪放芯片、射频滤波器和射频开关,硅衬底层均为高阻硅晶圆,射频芯片和器件为采用不同衬底材料不同工艺制成;其中,把射频芯片和器件微组装在第一硅衬底层、第三硅衬底层内预先蚀刻好的腔体中,且第一硅衬底层、第二硅衬底层、第三硅衬底层和第四硅衬底层做低温晶圆级键合堆叠在一起,并通过硅通孔垂直互连,形成三维异构集成的射频微系统。本发明将异构射频芯片和器件进行三维集成,从而减小射频系统的体积,提高射频系统的封装密度,降低互连线的传输损耗,增强射频系统的性能。
技术领域
本发明属于半导体技术领域,具体涉及一种硅基三维异构集成的射频微系统及其制造方法。
背景技术
目前传统多芯片模块封装技术(Multi Chip Module,MCM)是高密度电子封装技术中代表性技术,它可以方便的实现有源/无源电路、基带/射频电路的集成,在电子系统中得到广泛应用。由于MCM只能通过衬底来实现立体化的高密度互连,互连线条的特征尺寸受工艺制约只能做到数十微米到数百微米,芯片采取水平化的排布方式,其在互连占用面积、信号传输长度与延迟将随着芯片数量和I/O引脚数的增加而迅速变大,难以满足未来射频微系统/电子模块在高密度、高速互连、具有紧凑外观、集成多种类型器件的技术需求。
随着电子产品不断向小型化、轻重量和多功能方向的推进,三维封装集成技术发展迅速。三维集成微系统采用硅通孔(TSV)技术,把RF前端、信号处理、数据存储、传感、控制甚至能量源等多种功能垂直堆叠在一起,以达到缩小尺寸、提高密度、改善层间互联、提高系统功能的目的。具有硅通孔结构的转接板作为2.5D/3D封装集成的核心结构,通过硅通孔提供垂直互连大大缩短了连线长度,同时其热膨胀系数与芯片较好匹配,并兼容多层金属布线工艺和圆片级工艺,可实现无源器件、MEMS、腔体、微流道、多芯片的高性能异构集成。
硅基三维异构集成的射频微系统,把不同衬底材料不同工艺的射频芯片和器件进行三维集成封装,可以缩小微系统尺寸,提高封装密度,减轻整体重量,增强微系统可靠性。硅基三维异构集成的射频微系统的制造方法,采用硅通孔技术、硅转接板技术、微组装技术和晶圆级键合技术,可以实现微系统的批量生产,获得更好的性能一致性。
发明内容
针对上述现有多芯片模块封装技术的不足,本发明提出了一种硅基三维异构集成的射频微系统及其制造方法,把不同衬底材料不同工艺的射频芯片和器件进行三维集成封装,缩小射频微系统尺寸,提高封装密度,减轻整体重量。
一种硅基三维异构集成的射频微系统,包括第一硅衬底层、第二硅衬底层、第三硅衬底层、第四硅衬底层、射频功放芯片、射频低噪放芯片、射频滤波器和射频开关;第一硅衬底层和第三硅衬底层的正面,第二硅衬底层和第四硅衬底层的背面,均蚀刻有腔体;第一硅衬底层、第二硅衬底层、第三硅衬底层和第四硅衬底层,均设有硅通孔;第一硅衬底层、第二硅衬底层、第三硅衬底层和第四硅衬底层,正面和背面均设有互连线;射频功放芯片、射频滤波器和射频开关位于第一硅衬底层的腔体中,射频低噪放芯片和射频滤波器位于第三硅衬底层的腔体中,所述射频功放芯片、射频低噪放芯片、射频滤波器和射频开关通过引线与硅衬底层上的互连线连接;第一硅衬底层、第二硅衬底层、第三硅衬底层和第四硅衬底层堆叠连接进行三维集成;第一硅衬底层的背面设有焊接金属球,以便在应用过程中与其它基板连接。
优选地,所述第一硅衬底层、第二硅衬底层、第三硅衬底层和第四硅衬底层为高阻硅衬底,电阻率大于1000Ω·cm。
优选地,所述射频功放芯片为氮化镓芯片、射频低噪放芯片为砷化镓芯片、射频滤波器为体声波器件和射频开关为砷化镓芯片。
优选地,所述硅衬底层中的硅通孔用于实现三维集成结构中的垂直互连;所述射频功放芯片底部的硅通孔用于散热和接地,所述射频低噪放芯片和射频开关底部的硅通孔用于接地。
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