[发明专利]一种基于数据压缩技术的时间序列信号存储测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201810026072.1 申请日: 2018-01-11
公开(公告)号: CN108198585A 公开(公告)日: 2018-06-22
发明(设计)人: 周继昆;张荣;邓婷 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院总体工程研究所
主分类号: G11C11/22 分类号: G11C11/22;G11C29/40
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 杨春
地址: 621908*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 数据压缩技术 存储测试装置 时间序列信号 算法 数据压缩存储 测量精度高 存储器容量 电子学系统 嵌入式存储 动作信号 减少装置 数据存储 携带方便 体积小 功耗 存储 测试 记录
【说明书】:

发明属于嵌入式存储测试及数据压缩技术领域,具体公开一种基于数据压缩技术的时间序列信号存储测试装置及方法,该装置可以准确有效的记录电子学系统产生的一系列时间动作信号,并提出了一种数据压缩存储算法,采用这种算法进行数据存储,可以极大的减少装置对存储器容量的开销,该装置具有测量精度高、体积小、功耗低、携带方便、存储时间长等优点。

技术领域

本发明属于嵌入式存储测试及数据压缩技术领域,具体公开一种基于数据压缩技术的时间序列信号存储测试装置及方法。

背景技术

在弹从发射到碰靶的过程中,弹载控制系统通常需要发出一系列作动信号来实现相关动作,如:发动机点火信号、爆炸螺栓起爆信号、时序控制信号、计数器周期信号等。为了检验弹载控制系统是否在规定的时间点给出相应信号,通常采用弹载时间序列信号存储测试装置来记录这些时间作动信号的电平特征,待碰靶回收后,读取装置中的数据可以作为评估弹载控制是否正常工作的依据。

现有的弹载时间序列信号存储测试装置通常以5-10倍于被测信号的采样率对被测信号进行采样,然后顺序的将每一个采样结果存储到存储器中,待弹碰靶后回读存储器中的数据。由于数据存储过程中并未对信号进行压缩处理,若弹的飞行时间太长或被测信号的频率较高,需要存储的数据量就会很大,通常需要选择NAND FLASH大容量存储器来对采集到的数据进行存储。但NAND FLASH存储器会随机出现坏块,如果在读取数据时,存储器中存储的存储有效数据段的存储块损坏,则会丢失一部分有效数据,对试验结果造成误判。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种基于数据压缩技术的时间序列信号存储测试装置及方法,可以有效提高存储测试装置的可靠性和降低装置的功耗。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下:

一种基于数据压缩技术的时间序列信号存储测试装置,包括:

光电隔离器,用于将输入的多通道时间序列信号转换为标准电平数字信号;

CPLD器件,与所述光电隔离器连接,用于读取标准电平数字信号的高低电平,并将读取到的高低电平按数据压缩算法进行编码;

铁电存储器,与所述CPLD器件连接,用于存储编码后的数据;

数据回读模块,与所述CPLD器件连接,用于将存储的数据传输到上位机,由上位机对时间序列信号进行恢复还原并显示。

本发明的有益效果是:针对现有测试装置的不足,提出一种针对时间序列信号的数据压缩算法,并基于该算法设计了时间序列信号存储测试装置。由于采用了数据压缩算法,该装置采用铁电存储器作为存储介质即可满足对存储容量的需求,铁电存储器拥有高速读写,超低功耗和无限次写入等特性,且不会产生坏块,可以有效提高存储测试装置的可靠性和降低装置的功耗。

在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。

进一步,所述数据回读模块包括稳压芯片U8,以及与所述稳压芯片U8连接的USB接口芯片U12和USB接口P5。

采用上述进一步方案的有益效果是:可热插拔,使用方便。

进一步,所述铁电存储器型号为FM22L16。

采用上述进一步方案的有益效果是:使得测试装置具有高速读写,超低功耗和无限次写入等特性。

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