[发明专利]一种产品电磁兼容状况快速评估和质量控制的方法

说明书

一种产品电磁兼容状况快速评估和质量控制的方法。该方法包括：选择参考样品并获取参考样品的频谱；选择被评估产品并获取被评估产品的频谱；比较参考样品和评估产品的频谱，判断评估产品的电磁兼容状况。其优点在于：对产品的EMC状况快速评估可以在生产车间进行，节省了评估费用；对批量产品生产过程中产品的每只必检有利于产品EMC质量控制；评估结果不仅反映批量产品的EMC状况，而且反映产品质量，为批量产品的质量控制提供了一种新的手段。

技术领域

本发明涉及一种产品电磁兼容状况快速评估方法，特别是涉及一种可用于产品质量控制的电磁兼容状况快速评估方法。

背景技术

产品的电磁兼容（EMC）状况是产品质量的重要部分。产品的EMC状况低下会降低产品的抗干扰能力，从而降低产品的可靠性。然而，由于产品的EMC测试需要在屏蔽室内进行，昂贵并且耗时，至今为止的产品EMC性能评估局限于对产品的型式试验，也就是只对产品的一个样品做EMC测试，并且假定所有后续生产的同型号批量产品的EMC特性与该样品相同。然而，实践中由于产品的元器件的变动，生产工艺的改变等等都会导致批量产品的EMC状况偏离样品的EMC状况。

发明内容

本发明提出一种可用于产品质量控制的产品电磁兼容状况快速评估方法，能够对批量产品中每只产品的EMC状况做快速评估。由于产品的电磁干扰（EMI）由产品的电路产生，与电路的工作状况密切相关，因此本方法也能够用于批量产品的质量控制。

本发明提出的一种产品电磁兼容状况快速评估方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：

选择参考样品并获取参考样品的频谱；

选择被评估产品并获取被评估产品的频谱；

比较参考样品和评估产品的频谱，判断评估产品的电磁兼容状况。

所述的评估方法，其特征在于，所述参考样品与被评估产品属于同类型产品，参考样品的EMC状态已知。

所述的评估方法，其特征在于，所述获取参考样品频谱和获取被评估产品的频谱，可以是用电信号采集仪器采集参考样品和被评估产品电路上同样部位的电信号并且通过数学变换获得频谱。

所述的评估方法，其特征在于，所述获取参考样品频谱和获取被评估产品的频谱，可以是用频率测试仪测量参考样品和被评估产品电路上同样部位来获得频谱。

所述的评估方法，其特征在于，所述判断评估产品的电磁兼容状况，包括以下判据：

（1）

（2）

其中，R 为差值，f为频谱中的某一频率，Se为被评估产品的频谱，Sr为参考样品的频谱，Estatus为产品评估结果，margin为产品干扰的余量，uncertainty为测量不确定性，PASS为通过，FAIL为通不过，UNCERTAIN为不确定。

所述的评估方法，其特征在于，其特征在于，所述选择参考样品并获取参考样品的频谱，可以直接用任意线段替代参考样品的频谱。

本发明方法及其计算公式（1）（2）基于以下基本原理：

产品A和产品B属于同类型产品，用频谱表征EMI水平

基本原理1. 产品B的频谱低于产品A的频谱，如果EMC标准实验室测试产品A的频谱低于EMC标准规定的EMI限制线从而符合EMC标准，则产品B也因此符合EMC标准。

基本原理2. 在同样的环境下用相同的仪器在相同的测试点测量产品A和产品B获取频谱，即便上述环境和仪器与标准EMC测试要求的不同，上述基本原理1仍然成立。

基本原理3. 在同样的环境下用相同的仪器在相同的测试点测量产品A和产品B获取频谱，计算产品A和产品B频谱的差值能够消除环境干扰影响。