[发明专利]待检测的显示面板及其检测方法、显示面板及母板、显示装置有效
申请号: | 201810012327.9 | 申请日: | 2018-01-05 |
公开(公告)号: | CN107967886B | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 盖翠丽;林奕呈 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 显示 面板 及其 方法 母板 显示装置 | ||
本发明实施例提供一种待检测的显示面板及其检测方法、显示面板及母板、显示装置,涉及显示技术领域,用于解决采用现有面板功能测试方法对应用SPR技术的显示面板进行检测时,无法点出纯色画面的问题。待检测的显示面板包括多行子像素和多列子像素形成的子像素阵列,每行子像素由相同的栅线驱动,每列子像素由相同的数据线驱动。多行子像素中颜色分布相同的所有行子像素构成一个行像素组,多行子像素构成至少两个行像素组;用于驱动每个行像素组的各条栅线中至少两条通过连接线电连接;多列子像素中颜色分布相同的所有列子像素构成一个列像素组,多列子像素构成至少两个列像素组;用于驱动每个列像素组的各条数据线中至少两条通过连接线电连接。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种待检测的显示面板及其检测方法、显示面板及母板、显示装置。
背景技术
制备显示面板时,在贴附驱动芯片以及输入显示信号用的柔性电路板之前,通常会进行面板功能测试(英文全称:Cell Test,英文简称:CT),以检测显示面板制作过程中出现的不良。该测试过程通过对显示面板输入检测信号,驱动其一种颜色的子像素显示,以使得显示面板显示纯色画面,并通过该显示画面判断显示面板的各信号线是否发生断路或者短路,或者各子像素间是否会发生漏光等缺陷。
传统显示面板的像素排列方式如图1所示,每个像素10包括三个子像素,其中各行子像素的颜色分布均相同,且每列子像素中各子像素的颜色相同。在面板功能测试时,所有行栅线电连接在一起,并与行驱动信号输入端Gate相连接,相同颜色的各列子像素的数据线电连接在一起,并分别与数据信号输入端Date_R、Date_G、Date_B相连接。上述面板功能测试过程具体的包括,向行驱动信号输入端Gate和数据信号输入端Date_R输入检测信号,点出红色画面;向行驱动信号输入端Gate和数据信号输入端Date_G输入检测信号,点出绿色画面;向行驱动信号输入端Gate和数据信号输入端Date_B输入检测信号,点出蓝色画面。从而在纯色画面下验证显示面板的信号线之间是否断路,以及显示面板是否发生像素间漏光等缺陷。
近年来,SPR(英文全称:Sub Pixel Rendering,中文全称:子像素渲染)技术由于具有提升产品PPI(英文全称:Pixels Per Inch,中文全称:每英寸所拥有的像素数目)、降低IC(英文全称:Integrated Circuit,中文全称:集成电路)通道数,以及减少产品功耗等优势,被广泛的应用于图像显示领域。依据各厂商的面板设计,每个像素所包含的子像素的组合不同。一般而言,应用SPR技术的显示面板的一个像素不会具有面板的所有原色。如图2或图3所示,一个像素10会具有两个子像素,其颜色组合为红+绿、蓝+红或绿+蓝。
图2和图3为现有应用SPR技术的显示面板的两种像素排列方式的示意图。利用上述面板功能测试方法进行测试时,对于图2所示的像素排列方式,各栅线和数据线的连接方式如图2所示,当向行驱动信号输入端Gate和数据信号输入端Date_RB输入检测信号时,无法点出纯红色画面和纯蓝色画面;对于图3所示的像素排列方式,在向行驱动信号输入端Gate输入行驱动信号时,向数据信号输入端Date_1、Date_2、Date_3中的任何一个输入检测信号时,均无法点出纯色画面。
综上所述,对于应用SPR技术的显示面板,采用现有的面板功能测试方法无法点出纯色画面,从而无法验证显示面板的各子像素信号线之间是否断路,以及各子像素间是否发生漏光等缺陷。
发明内容
本发明的实施例提供一种待检测的显示面板及其检测方法、显示面板及母板、显示装置,用于解决采用现有的面板功能测试方法对应用SPR技术的显示面板进行检测时,无法点出纯色画面的问题。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
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