[发明专利]一种掺氧的Zn10Sb90纳米相变薄膜材料及其制备方法在审
申请号: | 201810012205.X | 申请日: | 2018-01-05 |
公开(公告)号: | CN108365091A | 公开(公告)日: | 2018-08-03 |
发明(设计)人: | 胡益丰;张锐;郭璇;尤海鹏;朱小芹;邹华 | 申请(专利权)人: | 江苏理工学院 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 张宇 |
地址: | 213001 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 纳米相变薄膜材料 制备 化学组成通式 晶态电阻 纳米薄膜 热稳定性 数据保持 功耗 晶化 | ||
1.一种掺氧的Zn10Sb90纳米相变薄膜材料,其特征在于,其化学组成通式为Zn10Sb90Ox,其中x代表不同的掺氧量标记,x=0.5、1、1.2、1.5。
2.如权利要求1所述的掺氧的Zn10Sb90纳米相变薄膜材料,其特征在于,材料的厚度为45-65nm。
3.一种掺氧的Zn10Sb90纳米相变薄膜材料的制备方法,其特征在于,
衬底采用SiO2/Si(100)基片,溅射靶材为Zn10Sb90,通过在射频溅射沉积Zn10Sb90薄膜的过程中同时通入氩气和氧气,并在纳米量级制备而成;其中氩气和氧气的总流量为30sccm。
4.如权利要求3所述的掺氧的Zn10Sb90纳米相变薄膜材料的制备方法,其特征在于,Zn10Sb90靶材的纯度原子百分比在99.999%以上,本底真空度不大于1×10-4Pa。
5.如权利要求3所述的掺氧的Zn10Sb90纳米相变薄膜材料的制备方法,其特征在于,Zn10Sb90靶材采用射频电源,溅射功率为25-35W。
6.如权利要求3所述的掺氧的Zn10Sb90纳米相变薄膜材料的制备方法,其特征在于,
具体包括以下步骤:
1)清洗SiO2/Si(100)基片;
2)安装好溅射靶材;设定溅射功率,设定溅射Ar气和O2气的气体流量及溅射气压;
3)将空基托旋转到Zn10Sb90靶位,打开Zn10Sb90靶上的射频电源,设定的溅射时间150~250s,开始对Zn10Sb90靶材表面进行溅射,清洁Zn10Sb90靶位表面;
4)关闭Zn10Sb90靶位上所施加的射频电源,将待溅射的基片旋转到Zn10Sb90靶位,打开Zn10Sb90靶位上的射频电源,依照设定的溅射时间,开始溅射Zn10Sb90Ox薄膜;溅射完毕后获得所述的掺氧Zn10Sb90纳米相变薄膜材料;
5)重复步骤2)-4),改变Ar气和O2气的流量比例,在SiO2/Si(100)基片上分别制备出Zn10Sb90Ox(x=0.5、1、1.2、1.5)纳米相变薄膜材料。
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