[发明专利]一种以太网测试治具的改进方法与系统

说明书

本发明提供一种以太网测试治具的改进方法与系统，所述方法包括以下步骤：将TC6和TC7模块设置在同一块PCB电路板上；将两个模块产生的10Base‑T的A+、A‑、B+信号线对称排列在PCB板上；分别在两个模块的A+、A‑、B+信号线之间设置切换开关；在测试时根据需要切换至相应模块。本发明通过设置切换电路，在TC6和TC7模块之间设置切换开关，在不同的测试过程中，将切换开关切换至不同的模块，实现不同模块与接口模块的连接通信，解决了当前对10M以太网的连接脉冲进行模板测试时需要更换含有Twisted‑pair model和不含有Twisted‑pair model的治具模块，操作过程繁琐，且容易出现错误的问题，实现仅仅通过切换开关即可完成更换测试模块的目的，简化了操作过程，提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及数据通信领域，特别是一种以太网测试治具的改进方法与系统。

背景技术

在服务器和PC等数据通信领域中，以太网的技术从10Base-T标准推出以来，发展非常迅速，目前基于双绞线介质的10M/100/1000M以太网已经得到广泛的应用。为了保证不同以太网设备间的互通性，需要按照规范要求进行相应的一致性测试。根据以太网不同速率和每个速率测试的参数的不同，需要有专门的测试治具，测试治具的目的是把以太网信号引出，提供一个标准的测试接口以方便测试。

在Ethernet的一致性测试中，依据不同测试项目的测试参数，被测DUT需要发出相应的测试码型，所以也需要相应的测试治具的模块进行测试。现有的测试治具的模块具有双绞线模型、三种10Base-T接口测试负载、回波损耗测试支持、共模输出电压支持等，可满足不同测试项的测试需求。

在10M以太网测试中，需要对连接脉冲(Link Pulse)进行模板测试。接口要求DUT发出连接脉冲以供TP_Link测试。本项测试需要在含有TC7Twisted-pair model和不含有TC6Twisted-pair model的不同模式下进行信号验证，但其缺点是在测试的过程中需要我们更换测试治具的模块，操作起来不方便而且容易出错。两种模型分别如图1和图2，测试治具分别连接测试设备以及示波器，DUT发送脉冲至测试治具，并通过示波器的波形显示，来确定测试是否通过，不同模型的测试中需要使用不同的测试模块，例如在测试治具中分别设置TC6模块和TC7模块。

发明内容

本发明的目的是提供一种以太网测试治具的改进方法与系统，旨在解决当前对10M以太网的连接脉冲进行模板测试时需要更换含有Twisted-pair model和不含有Twisted-pair model的治具模块，操作过程繁琐，且容易出现错误的问题，简化操作过程。

为达到上述技术目的，本发明提供了一种以太网测试治具的改进方法，包括以下步骤：

S101、将TC6和TC7模块设置在同一块PCB电路板上；

S102、将两个模块产生的10Base-T的A+、A-、B+信号线对称排列在PCB板上；

S103、分别在两个模块的A+、A-、B+信号线之间设置切换开关；

S104、在测试时根据需要切换至相应模块。

优选地，所述切换开关通过A+、A-、B+连接至RJ45接口。

优选地，所述RJ45接口与被测设备连接。

优选地，所述TC6模块为不含有Twisted-pair model，所述TC7为含有Twisted-pair model。

本发明还提供了一种以太网测试治具的改进系统，包括：

测试模式设置模块，用于将不同测试模块设置在同一块PCB电路板上；

信号线排列模块，用于将不同测试模块产生的10Base-T的A+、A-、B+信号线对称排列在PCB板上；