[发明专利]一种检测装置及检测方法

说明书

本发明公开了一种检测装置及检测方法，检测控制单元控制电流源与各检测线分时导通，并仅在一条检测线与电流源导通时，控制该检测线与检测输出单元导通，以使检测输出单元根据第一参考电压、第二参考电压以及导通的检测线上的电压，向数据处理单元输出与导通的检测线对应的检测信号。数据处理单元根据各检测线对应的检测信号，确定各检测线对应的充电时间，根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各检测线对应的充电时间比值，从而在对像素进行外部补偿时，可以根据各条检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各检测线对应的数据电压进行调整，以提高外部补偿计算得到的数据电压的精确度，提高画面显示效果。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种检测装置及检测方法。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)、量子点发光二极管(Quantum Dot Light Emitting Diodes，QLED)等电致发光二极管具有自发光、低能耗等优点，是当今电致发光显示面板应用研究领域的热点之一。目前，电致发光二极管一般属于电流驱动型，需要稳定的电流来驱动其发光，因此一般采用像素电路来驱动电致发光二极管发光。现有的像素电路如图1所示，一般包括：驱动晶体管T1、开关晶体管T2以及存储电容Cst。该像素电路通过控制开关晶体管T2打开以将数据信号端Data的数据电压写入驱动晶体管T1的栅极，控制驱动晶体管T1产生工作电流以驱动电致发光二极管L发光。然而随着使用时间的增加，驱动晶体管T1会出现老化等情况，导致驱动晶体管T1的特性，例如阈值电压与迁移率发生漂移，从而会造成显示亮度差异。

为了保证显示质量，可以通过外部补偿的方式对驱动晶体管的阈值电压和迁移率进行补偿。如图1所示，还需要在电致发光显示面板中设置检测线SL以及在像素电路中设置连接于驱动晶体管T1与检测线SL之间的检测晶体管T3。其中，在对电致发光显示面板中的像素进行补偿时，通过控制像素中的像素电路对检测线SL充电，再通过检测该检测线SL上的电压，并根据检测到的计算流经驱动晶体管T1的电流大小以进行补偿计算，得到该像素对应的用于显示的数据电压。然而，由于电致发光显示面板还具有多种信号线和膜层，使得检测线与其他信号线和膜层之间存在寄生电容，在外部补偿时需要用到该寄生电容值。由于工作制备原因，不同检测线的寄生电容值也不尽相同。从而在外部补偿时，由于不同检测线的寄生电容值之间存在差异，导致补偿计算得到的数据电压不准确，影响画面显示效果的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种检测装置及检测方法，用以解决现有技术中由于不同检测线的寄生电容值之间的差异，导致补偿计算得到的数据电压不准确，影响画面显示效果的问题。

因此，本发明实施例提供了一种检测装置，所述检测装置包括：电流源、检测控制单元、检测输出单元，数据处理单元；

所述检测控制单元用于在预设检测阶段中，控制所述电流源与电致发光显示面板中的各检测线分时导通；针对一条检测线，仅在所述检测线与所述电流源导通时，控制所述检测线与所述检测输出单元导通；

所述检测输出单元用于仅在与一条检测线导通时，根据第一参考电压、第二参考电压以及导通的所述检测线上的电压，向所述数据处理单元输出与导通的所述检测线对应的检测信号，以及在与导通的所述检测线断开时进行复位；其中，所述检测信号具有第一电位信号和第二电位信号；

所述数据处理单元用于接收各所述检测线对应的检测信号，并根据接收的检测信号，确定各所述检测线对应的充电时间，以及根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各所述检测线对应的充电时间比值，并在对所述有机发光显示面板中的像素进行外部补偿时，根据各所述检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整；以及在所述预设检测阶段中，控制所述电致发光显示面板中的各所述像素与对应的检测线断开。

可选地，在本发明实施例提供的上述检测装置中，所述检测控制单元包括：第一开关以及与各所述检测线一一对应的第二开关；