[发明专利]X射线成像系统故障诊断方法、装置、系统和存储介质

说明书

本发明涉及一种X射线成像系统故障诊断方法、X射线成像系统故障诊断装置、X射线成像系统和计算机可读存储介质。所述X射线成像系统故障诊断方法可以通过获取探测器数据，并对其进行数据处理以进一步确定探测器数据的特征参数，并可以获取与特征参数相对应的参考值，通过比较特征参数与参考值之间有无明显差异，以确定当前X射线成像系统是否发生故障。

技术领域

本发明涉及医疗设备故障诊断领域，特别是涉及一种X射线成像系统故障诊断方法、X射线成像系统故障诊断装置、X射线成像系统和计算机可读存储介质。

背景技术

随着社会的不断发展，人们对X射线成像系统比如电子计算机断层扫描(ComputedTomography，简称CT)设备的需求也在不断增加。这就使得X射线成像系统使用次数要不断增加，然而，这也就使得X射线成像系统会因为各种各样的原因发生故障。

一旦发生故障而不能及时发现，则很容易产生扫描图像的失真，严重的还可能造成系统瘫痪。

发明内容

基于此，有必要针对如何判断X射线成像系统是否故障的问题，提供一种X射线成像系统故障诊断方法、X射线成像系统故障诊断装置、X射线成像系统和计算机可读存储介质。

一种X射线成像系统故障诊断方法，所述X射线成像系统包括用于发射X射线的球管和用于接收所述X射线的探测器，所述方法包括：

获取所述探测器所接收到的投影数据；

对所述投影数据进行处理以获取当前X射线的特征参数；

获取预存的与所述特征参数对应的参考值；

将所述特征参数与所述参考值进行比较，并根据比较结果确定所述X射线成像系统是否发生故障。

在其中一个实施例中，所述探测器包括多个探测器单元，所述投影数据包括每个探测器单元所接收的X射线的强度和每个探测器单元的位置信息；所述对所述投影数据进行处理以获取当前X射线的特征参数包括：

根据所述X射线的强度和所述位置信息，获取所述X射线在所述探测器上的强度分布数据。

在其中一个实施例中，所述特征参数包括X射线的最大强度值，所述参考值包括X射线的标准最大强度值；所述根据比较结果确定所述X射线成像系统是否发生故障包括：

根据所述强度分布数据，确定所述X射线的最大强度值；

调取所述X射线的标准最大强度值；

将所述X射线的最大强度值与所述X射线的标准最大强度值进行比较；

其中，若所述X射线的最大强度值与所述X射线的标准最大强度值的差值

在其中一个实施例中，所述球管包括球管灯丝和阳极靶面，所述球管灯丝发射电子束轰击所述阳极靶面产生焦点，并在所述焦点处产生X射线以被所述探测器接收；所述特征参数包括所述焦点的参数，所述参考值包括标准焦点参数；所述根据比较结果确定所述X射线成像系统是否发生故障包括：

根据所述强度分布数据，确定所述焦点的参数；

获取所述标准焦点参数；

将所述焦点的参数与所述标准焦点参数进行比较，并根据比较结果确定所述X射线成像系统是否发生故障。

在其中一个实施例中，所述焦点的参数包括所述焦点的尺寸和所述焦点的位置，所述标准焦点参数包括标准焦点尺寸和标准焦点位置；其中，所述焦点的参数与所述标准焦点参数相对应，所述焦点的位置与所述标准焦点位置相对应。

一种X射线成像系统故障诊断装置，所述X射线成像系统包括用于发射X射线的球管和用于接收所述X射线的探测器，所述装置包括：