[发明专利]检测对表面的触摸输入在审

专利信息
申请号: 201780095736.3 申请日: 2017-08-24
公开(公告)号: CN111201506A 公开(公告)日: 2020-05-26
发明(设计)人: I·库什尼尔;O·德加尼 申请(专利权)人: 苹果公司
主分类号: G06F3/046 分类号: G06F3/046;G06F3/041;G01S13/87
代理公司: 北京市汉坤律师事务所 11602 代理人: 魏小薇;吴丽丽
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 表面 触摸 输入
【权利要求书】:

1.一种用于检测对表面的触摸输入的装置(10),所述装置(10)包括:

至少一个雷达发射器部件(12),所述至少一个雷达发射器部件被配置为发射射频频谱中的电磁辐射;

至少一个雷达接收器部件(14),所述至少一个雷达接收器部件被配置为接收由对所述表面执行所述触摸输入的对象反射的所述电磁辐射的一部分;以及

控制组件(16),所述控制组件被配置为:

接收与由所述至少一个雷达接收器部件(14)接收的所述电磁辐射的所述一部分相关的信息,并且

基于与由所述至少一个雷达接收器部件(14)接收的所述电磁辐射的所述一部分相关的所述信息来检测对所述表面的所述触摸输入。

2.根据权利要求1所述的装置(10),其中所述控制组件(16)被配置为基于所接收的所述电磁辐射的所述一部分相对于所发射的电磁辐射的相移来检测对所述表面的所述触摸输入。

3.根据权利要求1所述的装置(10),其中所述至少一个雷达发射器部件(12)被配置为在毫米波频带中发射所述电磁辐射。

4.根据权利要求1所述的装置(10),其中所述控制组件(16)被配置为基于与由所述至少一个雷达接收器部件(14)接收的所述电磁辐射的所述一部分相关的所述信息来确定所述对象相对于所述表面的位置,并且其中所述控制组件(16)被配置为经由接口提供与所述对象的所述位置相关的信息。

5.根据权利要求1所述的装置(10),其中所述至少一个雷达发射器部件(12)被配置为利用所述电磁辐射来扫掠区域。

6.根据权利要求5所述的装置(10),其中所述控制组件(16)被配置为基于检测到的触摸输入来指定待由所述至少一个雷达发射器部件(12)扫掠的所述区域。

7.根据权利要求5所述的装置(10),其中所述控制组件(16)被配置为基于以下分组中的至少一个元素来控制所述扫掠的属性:检测到的对所述表面的触摸次数、触摸检测的期望的空间分辨率或时间分辨率、以及待由检测到的触摸控制的应用程序的类型。

8.根据权利要求1所述的装置(10),其中所述控制组件(16)被配置为在第一时间间隔内检测所述对象存在于所述表面附近,并且其中所述控制组件(16)被配置为在第二时间间隔内确定所述对象相对于所述表面的位置。

9.根据权利要求8所述的装置(10),其中所述至少一个雷达发射器部件(12)被配置为在所述第一时间间隔期间利用所述电磁辐射来扫掠第一区域,并且其中所述至少一个雷达发射器部件(12)被配置为在所述第二时间间隔期间扫掠第二区域,其中所述第一区域大于所述第二区域。

10.根据权利要求8所述的装置(10),其中所述至少一个雷达发射器部件(12)被配置为在所述第一时间间隔期间使用第一较低时间分辨率来扫掠区域,并且其中所述至少一个雷达发射器部件(12)被配置为在所述第二时间间隔期间使用第二较高时间分辨率来扫掠区域。

11.根据权利要求8所述的装置(10),其中所述控制组件(16)被配置为在所述第一时间间隔内估计所述对象相对于所述表面的位置,并且其中所述控制组件(16)被配置为在所述第二时间间隔内基于所估计的所述对象的位置来指定待由所述至少一个雷达发射器部件(12)扫掠的区域。

12.根据权利要求1所述的装置(10),其中所述至少一个雷达发射器部件(12)包括至少一个相控阵列天线,并且其中所述至少一个雷达发射器部件(12)被配置为使用所述至少一个相控阵列天线利用所述电磁辐射来扫掠区域。

13.根据权利要求1所述的装置(10),其中所述至少一个相控阵列天线的电磁辐射图案为沿着所述表面延伸的定向图案。

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