[发明专利]色谱质谱分析方法及色谱质谱分析装置

说明书

本发明提供一种色谱质谱分析方法，其具有下述工序：将具有与分析对象成分类似的保留时间并且质荷比不同的内标物质添加至试样的工序，利用色谱质谱分析装置测定试样，获得分析对象成分的色谱图(101)和内标物质的色谱图(102)的工序，由内标物质的色谱图检测峰(113)，求出该峰的峰开始时间和峰结束时间的工序，以及将求得的峰开始时间和峰结束时间应用于分析对象成分的色谱图的峰开始时间和峰结束时间的工序。

技术领域

本发明涉及色谱质谱分析方法以及色谱质谱分析装置。

背景技术

近年来，使用了液相色谱质谱分析装置的定量分析法被大量用于生物体试样中的药剂成分、代谢物、环境试样中的残留物等的分析。液相色谱中使用了利用柱的分离时间最大数十分钟的高速型，或以最大数分钟进行分离的超高速型等。进一步，检测分离后的成分的质谱分析装置有例如四极型质谱分析装置、离子阱型质谱分析装置、飞行时间型质谱分析装置。它们根据分析的目的来分别使用，但以定量为目标的情况下，大多使用四极型质谱分析装置。

四极型质谱分析装置能够通过扫描、选择离子监测(SIM：Selected IonMonitoring)来测定试样。扫描被用于未知试样的定性分析等，在规定的质荷比(m/z)的范围内，检测相对于质荷比的离子量来作为信号。SIM为选择性地检测相对于预先指定的质荷比的离子量。三重四极型质谱分析装置等中，还利用了选择性地检测由分析对象的成分产生的特定的子离子的量的选择反应监测(SRM：Selected Reaction Monitoring)。在来源于分析对象的成分的离子、该子离子的质荷比已知的情况下，能够通过这些方法以高灵敏度进行定量分析。

在生物体试样中的药剂成分、代谢物、环境试样中的残留物等的确认时，通过液相色谱质谱分析装置的SIM、SRM来取得表示离子量的经时变化的色谱图，检测与分析对象成分、内标物质对应的峰，并获得测定值。峰检测时，通常进行在判定峰的开始点和结束点的基础上，算出峰的面积、高度来作为测定值。另外，通过峰的保留时间来判定分析对象成分、内标物质，但保留时间取决于液相色谱的柱的种类、状态、分离条件。峰检测法有对数据的变化量进行梯度检测的方法等，作为使其改良后的方法，有专利文献1所示那样的肩峰检测方法，进一步有专利文献2所示那样的通过拟合到任意函数来进行检测的方法等。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开昭61-145457号公报

专利文献2：日本特开昭63-151851号公报

发明内容

发明所要解决的课题

在由色谱图鉴定峰并计算峰的面积、高度的情况下，使用例如专利文献1、2所示的方法来检测峰。然而，在生物体试样中的药剂成分、代谢物、环境试样中的残留物等的分析中，有时分析对象成分极其微量。在该情况下，色谱图上没有出现明确的峰，需要将噪声除去、高度的信号处理进行组合来检测分析对象成分，峰的检测变得困难。

在利用色谱进行的分析中，存在保留时间变动的问题。由于流路的堵塞、柱的劣化、环境温度、柱温度的微妙的差异，分析对象成分的保留时间受到影响。因此，通常即使已知规定的分析条件下的分析对象成分的保留时间，也要设置时间范围来进行峰位置的搜索。除了上述峰检测困难的状况以外，在考虑到保留时间变动的情况下，分析对象成分的测定值的算出变得更加困难。

从以上来看，即使在分析对象成分微量的情况下，也需要能够准确地进行峰位置的鉴定并算出测定值的方法。

用于解决课题的方法