[发明专利]利用地层数据的统计分布评估地层的系统和方法

权利要求书

1.一种用于评估地下地层的系统，包括：

测井工具，其包括可操作用于测量地层数据的传感器，并可定位在与所述地下地层相交的井筒中；

处理器，其与所述测井工具通信，并可操作用于：

计算所述地层数据的反演解，其中每个反演解包括所述地层的参数的值，

使用所述反演解生成沿着所述地下地层中的一个或多个深度的所述参数的统计分布，

识别所述统计分布内的峰，并选择对应于所述识别的峰的反演解，

使用所述选择的反演解生成地层模型；以及

使用所述地层模型评估所述地层，以识别用于生产地层流体的地层。

2.如权利要求1所述的系统，其中所述测井工具包括电阻率测井工具，所述电阻率测井工具可操作用于测量所述地层的电阻率。

3.如权利要求1所述的系统，其中所述处理器还可操作用于通过计算所述测井工具的测量深度的选定解中包括的参数值的平均值来生成所述地层模型。

4.如权利要求1所述的系统，其中所述参数包括水平电阻率、竖直电阻率、电导率、各向异性比、地层的边界位置和地层倾角中的任何一者或任何组合。

5.如权利要求1所述的系统，其中所述统计分布包括所述参数的直方图，其中所述处理器还可操作用于通过确定所述反演解中的地层边界位置以及确定每个真实竖直深度处的地层边界位置的频率来生成所述直方图。

6.如权利要求1所述的系统，其中所述处理器还可操作用于通过识别所述统计分布中的峰宽来基于所述统计分布确定参数的不确定性。

7.如权利要求1所述的系统，其中所述反演解包括一维、二维或三维反演解中的任何一者或任何组合。

8.如权利要求1所述的系统，其中所述处理器还可操作用于选择相对于所述地层数据满足失配阈值的反演解，以生成所述统计分布。

9.如权利要求1所述的系统，其中所述处理器还可操作用于计算在特定井筒深度测量的地层数据的所述反演解。

10.如权利要求1所述的系统，其中所述处理器还可操作用于基于参数频率相对于相邻参数频率超过阈值来识别所述统计分布内的峰。

11.一种评估地下地层的方法，包括：

计算利用位于与所述地层相交的井筒中的测井工具的传感器测量的地层数据的反演解，其中所述反演解包括所述地层的参数的值，

使用所述反演解生成沿着所述地下地层中的一个或多个深度的所述参数的统计分布，

识别所述统计分布内的峰，并选择对应于所述识别的峰的所述反演解，

使用所述选择的反演解生成地层模型，以及

评估所述地层模型以识别用于生产地层流体的地层。

12.如权利要求11所述的方法，其中所述测井工具包括电阻率测井工具，所述电阻率测井工具可操作用于测量所述地层的电阻率。

13.如权利要求11所述的方法，其中通过计算包括在所述测井工具的测量深度的选定解中的参数值的平均值来生成所述地层模型。

14.如权利要求11所述的方法，其中所述参数包括水平电阻率、竖直电阻率、电导率、各向异性比、地层的边界位置和地层倾角中的任何一者或任何组合。

15.如权利要求11所述的方法，其中所述统计分布包括所述参数的直方图，并且其中生成所述直方图包括确定所述反演解中的地层边界位置以及确定每个真实竖直深度处的地层边界位置的频率。

16.如权利要求11所述的方法，还包括基于所述地层边界位置的统计分布来确定参数的不确定性。