[发明专利]存储控制器、数据处理芯片及数据处理方法有效
| 申请号: | 201780088333.6 | 申请日: | 2017-03-16 |
| 公开(公告)号: | CN110431531B | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
| 发明(设计)人: | 曾雁星;沈建强;吕温;谈晓东 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 存储 控制器 数据处理 芯片 方法 | ||
1.一种存储控制器,其特征在于,包括处理器、存储器和通信接口;
所述处理器,用于通过所述通信接口获取待编码的K个数据chunk,并将所述K个数据chunk缓存入所述存储器,每个数据chunk包括R个数据块,R=2Q,Q和K均为正整数;
所述处理器,还用于执行所述存储器中的代码实现以下操作:
读取所述存储器中存储的所述K个数据chunk,根据校验矩阵和所述K个数据chunk生成第一校验chunk和第二校验chunk,每个校验chunk包括R个数据块;
其中,所述校验矩阵有2*R行,所述校验矩阵中第(k-1)*R+1列至第k*R列为所述K个数据chunk中第k个数据chunk的chunk列集合,K≥k≥1,所述校验矩阵中第K*R+1列至第(K+1)*R列为对应所述第一校验chunk的chunk列集合,所述校验矩阵中第(K+1)*R+1列至第(K+2)*R列为所述第二校验chunk的chunk列集合;
所述校验矩阵为标准校验矩阵或由标准校验矩阵执行N次调换操作后得到,N≥1,所述调换操作指将任意两个chunk列集合调换;
所述标准校验矩阵中,所述K个数据chunk中第k个数据chunk的chunk列集合由正对角矩阵和Mk构成,所述第一校验chunk的chunk列集合由正对角矩阵和MK+1构成,所述第二校验chunk的chunk列集合由0矩阵和正对角矩阵构成,所述Mk和所述MK+1为伽罗华域GF(2R)中不同元素对应的二进制矩阵。
2.如权利要求1所述的存储控制器,其特征在于,所述处理器还用于,通过所述通信接口将所述K个数据chunk、所述第一校验chunk和所述第二校验chunk分别存入所述存储控制器所在的存储系统的K+2个存储介质中。
3.如权利要求2所述的存储控制器,其特征在于,所述处理器还用于,当所述K+2个存储介质中有存储介质损坏时,根据所述校验矩阵和所述K+2个存储介质中未损坏的存储介质上存储的数据chunk和所述第一校验chunk和所述第二校验chunk,恢复所述损坏的存储介质。
4.一种数据处理芯片,其特征在于,包括电路和读写接口;
所述电路用于,通过所述读写接口获取待编码的K个数据chunk,每个数据chunk包括R个数据块,R=2Q,Q和K均为正整数;
所述电路还用于,根据校验矩阵和所述K个数据chunk生成第一校验chunk和第二校验chunk,每个校验chunk包括R个数据块;
其中,所述校验矩阵有2*R行,所述校验矩阵中第(k-1)*R+1列至第k*R列为所述K个数据chunk中第k个数据chunk的chunk列集合,K≥k≥1,所述校验矩阵中第K*R+1列至第(K+1)*R列为对应所述第一校验chunk的chunk列集合,所述校验矩阵中第(K+1)*R+1列至第(K+2)*R列为所述第二校验chunk的chunk列集合;
所述校验矩阵为标准校验矩阵或由标准校验矩阵执行N次调换操作后得到,N≥1,所述调换操作指将任意两个chunk列集合调换;
所述标准校验矩阵中,所述K个数据chunk中第k个数据chunk的chunk列集合由正对角矩阵和Mk构成,所述第一校验chunk的chunk列集合由正对角矩阵和MK+1构成,所述第二校验chunk的chunk列集合由0矩阵和正对角矩阵构成,所述Mk和所述MK+1为伽罗华域GF(2R)中不同元素对应的二进制矩阵。
5.如权利要求4所述的数据处理芯片,其特征在于,所述数据处理芯片运用于存储控制器中;
所述电路,还用于通过所述读写接口将所述K个数据chunk、所述第一校验chunk和所述第二校验chunk存入所述存储控制器的存储器中,以便所述存储控制器将所述K个数据chunk、所述第一校验chunk和所述第二校验chunk分别存入所述存储控制器所在的存储系统的K+2个存储介质中。
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