[发明专利]用于内建自测试的方法和设备

说明书

本发明涉及与内建自测试(BIST)有关的方法、设备和编程，公开了一种用于内建自测试的方法和设备。其中，一种用于内建自测试的设备包括：基板上的一个或多个非时钟和数据恢复(CDR)部件；所述基板上的信号发生器，所述信号发生器耦接到所述一个或多个非CDR部件中的至少一个；以及所述基板上的CDR部件，所述CDR部件耦接到所述一个或多个非CDR部件，其中所述CDR部件被配置为通过所述CDR部件从接收到的信号恢复时钟数据，并且被配置为基于所述接收到的信号和所述时钟数据来确定信号。

技术领域

本发明整体涉及与内建自测试(BIST)有关的方法、设备和编程。特别地，本发明涉及适用于执行BIST的设备，以及用于制造该设备和执行该设备的BIST的方法和编程。

背景技术

BIST是一种允许装置(例如集成电路(IC)装置)自我测试的机制。在IC设计中，可以制造一个或多个测试部件作为IC装置的一部分，用于在制造之后执行该IC装置的BIST。由于不依赖外部测试装备执行这种测试，所以大大降低了测试机构的复杂性，从而降低了成本，特别是大批量生产的成本。

发明内容

可能希望对装置中的感兴趣的任何部件或任何一组部件执行BIST。在一些情况下，传统上执行BIST仅仅是为了监测该装置的某个具体部件，从而限制了BIST的应用。例如，执行BIST可能仅仅是为了测试接收器的时钟和数据恢复(CDR)部件。因此，即便在执行BIST之后，也不会识别接收器中除CDR部件之外的损坏部件。另外，传统的IC设计可能不支持该IC装置(例如，如本文所述的接收器)中作为整体的两个或更多个部件的BIST。因此，需要适用于对装置中的感兴趣的任何部件或任何一组部件执行BIST的改进的方法和设备。

本发明描述了与BIST有关的方法、系统和编程。特别地，本发明涉及适用于执行BIST的设备，以及用于制造该设备和执行该设备的BIST的方法和编程。

在一个示例性实施方案中，提供了一种设备，包括：基板上的一个或多个非CDR部件；基板上的信号发生器，该信号发生器耦接到一个或多个非CDR部件中的至少一个；以及基板上的CDR部件，该CDR部件耦接到一个或多个非CDR部件，其中该CDR部件：被配置为通过该CDR部件从接收到的信号恢复时钟数据，并且被配置为基于接收到的信号和时钟数据来确定信号。

在另一个示例性实施方案中，提供了一种方法，包括：在基板上形成信号发生器、一个或多个非CDR部件，以及CDR部件，其中该CDR部件：被配置为通过该CDR部件从接收到的信号恢复时钟数据，并且被配置为基于接收到的信号和时钟数据来确定信号；将该CDR部件耦接到一个或多个非CDR部件；以及将信号发生器耦接到一个或多个非CDR部件中的至少一个。

在又一个示例性实施方案中，提供了一种使用设备的方法，该设备包括：基板上的一个或多个非CDR部件；基板上的信号发生器，该信号发生器耦接到一个或多个非CDR部件中的至少一个；以及基板上的CDR部件，该CDR部件耦接到一个或多个非CDR部件，其中该CDR部件：被配置为通过该CDR部件从接收到的信号恢复时钟数据，并且被配置为基于接收到的信号和时钟数据来确定信号，并且该方法包括由信号发生器提供具有一个或多个可调节参数的测试信号。

其他概念涉及用于制造如本文所述的设备并且在该设备上执行BIST的软件。根据该概念的软件产品包括至少一种机器可读的非暂时性介质和由该介质携带的信息。

在一个示例性实施方案中，提供了一种具有信息的机器可读的有形且非暂时性的介质，其中该信息在被硬件处理器系统读取时致使硬件处理器系统执行以下操作：在基板上形成信号发生器、一个或多个非CDR部件，以及CDR部件，其中该CDR部件：被配置为通过该CDR部件从接收到的信号恢复时钟数据，并且被配置为基于接收到的信号和时钟数据来确定信号；将该CDR部件耦接到一个或多个非CDR部件；以及将信号发生器耦接到一个或多个非CDR部件中的至少一个。