[发明专利]用于熔融的多层非晶硒传感器的制造方法有效
| 申请号: | 201780085490.1 | 申请日: | 2017-11-30 |
| 公开(公告)号: | CN110582854B | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
| 发明(设计)人: | J.朔伊尔曼;W.赵 | 申请(专利权)人: | 纽约州州立大学研究基金会 |
| 主分类号: | H01L31/0272 | 分类号: | H01L31/0272;H01L31/0376;H01L31/115;H01L27/14;H01L27/146 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 郑冀之;陈岚 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 熔融 多层 非晶硒 传感器 制造 方法 | ||
1.一种制造传感器的方法,包括:
在第一基板之上形成第一电荷阻挡层;
在所述第一电荷阻挡层之上形成非晶硒的第一层;
在第二基板之上形成第二电荷阻挡层;
在所述第二电荷阻挡层之上形成非晶硒的第二层;
使非晶硒的所述第一层与非晶硒的所述第二层接触以形成多层结构;
加热所述多层结构以将非晶硒的所述第一层熔融至非晶硒的所述第二层。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一电荷阻挡层和所述第二电荷阻挡层各自包括有机聚合物。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一电荷阻挡层和所述第二电荷阻挡层通过物理气相沉积、化学气相沉积或基于溶液的沉积而形成。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一基板包括电子读出器。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一电荷阻挡层形成在像素电极之上。
6.根据权利要求1所述的方法,其中非晶硒的所述第一层的厚度小于非晶硒的所述第二层的厚度。
7.根据权利要求1所述的方法,其中非晶硒的所述第一层和非晶硒的所述第二层中的至少一个包括掺杂的非晶硒。
8.根据权利要求1所述的方法,其中所述第二基板包括电极玻璃或闪烁体。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一基板和所述第二基板中的至少一个是柔性基板。
10.根据权利要求1所述的方法,还包括在形成所述第二电荷阻挡层之前在所述第二基板之上形成高压电极。
11.根据权利要求1所述的方法,其中所述多层结构被加热至35°C至60°C之间的温度以熔融所述非晶硒的第一层、以及所述非晶硒的第二层。
12.根据权利要求1所述的方法,还包括在所述加热期间向所述多层结构施加压缩力。
13.根据权利要求1所述的方法,其中加热所述多层结构以熔融非晶硒的所述第一和第二层是在真空下执行的。
14.根据权利要求1所述的方法,其中熔融的非晶硒层没有孔隙。
15.一种制造传感器的方法,包括:
在基板之上形成电荷阻挡层;
在所述电荷阻挡层之上形成非晶硒层;以及
加热非晶硒的所述层以将所述非晶硒层熔融到所述电荷阻挡层。
16.根据权利要求15所述的方法,其中所述基板是柔性基板。
17.根据权利要求15所述的方法,其中所述电荷阻挡层以至少200°C的温度通过物理气相沉积或化学气相沉积来形成。
18.根据权利要求15所述的方法,其中将所述非晶硒层加热至35°C至60°C之间的温度以将所述非晶硒层熔融至所述电荷阻挡层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





