[发明专利]用于键合芯片的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201780085240.8 申请日: 2017-03-02
公开(公告)号: CN110214369A 公开(公告)日: 2019-09-06
发明(设计)人: M.温普林格 申请(专利权)人: EV集团E·索尔纳有限责任公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683;H01L21/78;H01L21/60;H01L23/544;H01L21/67
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 孙云汉;闫小龙
地址: 奥地利圣*** 国省代码: 奥地利;AT
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 芯片 键合 衬底 方法和装置 键合芯片 直接键合
【权利要求书】:

1.一种用于将芯片(7)键合到半导体衬底(11')上或键合到其它芯片上的方法,

其特征在于,

所述芯片(7)通过直接键合来被键合到所述半导体衬底(11')或者所述其它芯片上。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述芯片(7)的键合表面(7b)上进行所述直接键合,其中所述键合表面(7b)是混合键合表面。

3.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述芯片(7)被定位而且进行所述芯片(7)的自对准。

4.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,为了制造所述芯片(7),将衬底(11)固定在载体(15)上,尤其是固定在胶带上,并且然后将所述衬底(11)分离成所述芯片(7)。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在将所述衬底(11)固定在所述载体(15)上之前,对所述衬底(11)的键合表面(7b)进行清洁。

6.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,在从所述载体(15)除去期间和/或在运输到其它位置、尤其是键合位置期间,对所述芯片(7)的键合表面(7b)进行清洁,尤其是持续地进行清洁。

7.根据权利要求4、5或6所述的方法,其特征在于,所述芯片(7)通过机械分离装置来分离,其中事先已将缝隙(12)引入到所述衬底(11)的键合表面(7b)中。

8.一种用于将芯片(7)键合到半导体衬底(11')或其它芯片上的装置,

其特征在于,

所述芯片(7)能通过直接键合来被键合到所述半导体衬底(11')或者所述其它芯片上。

9.根据权利要求8所述的装置,所述装置具有顶出装置(1),所述顶出装置具有用于对所述芯片(7)进行定位和/或固定的凹陷(2)。

10.根据权利要求8或9所述的装置,其中套管(3)、尤其是孔位于所述凹陷(2)的底面上,其中提升装置(4)能提升所述芯片(7)经过所述套管(3),以便使所述芯片(7)对于夹具(5)来说能接触到。

11.根据权利要求8、9或10所述的装置,其中所述凹陷(2)的深度(t)对应于所述芯片(7)的高度。

12.根据权利要求8、9、10或11所述的装置,其中所述夹具(5)将所述芯片(7)固定在与所述键合表面(7b)对置的固定表面上。

13.根据权利要求8、9、10、11或12所述的装置,所述装置具有掩模(23),所述掩模具有孔隙(24),其中所述掩模(23)能一直在装载有所述芯片(7)的顶出装置(1、1')上方移动,直至所述孔隙(24)位于下一个待键合的芯片(7)上方。

14.根据权利要求8、9、10、11、12或13所述的装置,所述装置具有键合头(9),用于对所述芯片(7)进行固定、运输和键合。

15.一种由芯片构成的芯片堆,其特征在于,所述芯片通过直接键合来彼此键合。

16.一种具有芯片的半导体衬底(11'),其特征在于,所述芯片通过直接键合来被键合到所述半导体衬底(11')上。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于EV集团E·索尔纳有限责任公司,未经EV集团E·索尔纳有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201780085240.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top