[发明专利]磁性体的检查装置和磁性体的检查方法有效
| 申请号: | 201780084860.X | 申请日: | 2017-01-26 |
| 公开(公告)号: | CN110234988B | 公开(公告)日: | 2023-06-06 |
| 发明(设计)人: | 饭岛健二 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号: | G01N27/83 | 分类号: | G01N27/83 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 磁性 检查 装置 方法 | ||
1.一种磁性体的检查装置,具备:
磁场施加部,其预先对作为检查对象的磁性体施加磁场以调整所述磁性体的磁化的方向,所述磁性体由长条构件形成;
探测部,其在由所述磁场施加部施加了磁场后,输出基于所述磁性体的磁场或磁场的变化的探测信号;以及
判定部,其基于由所述探测部输出的所述探测信号来进行所述磁性体的状态的判定,
其中,所述探测部包括产生所述探测信号的探测线圈,所述探测线圈设置为以所述磁性体为中心包围所述磁性体、且沿着所述磁性体的延伸方向进行卷绕。
2.根据权利要求1所述的磁性体的检查装置,其特征在于,构成为:
所述磁场施加部预先对作为检查对象的磁性体沿第一方向施加磁场以调整所述磁性体的磁化的方向,
所述探测部针对由所述磁场施加部沿所述第一方向施加了磁场后的所述磁性体探测与所述第一方向交叉的第二方向的磁场和所述第二方向的磁场的变化中的至少任一方,并且输出基于探测出的所述磁性体的所述第二方向的磁场或所述第二方向的磁场的变化的探测信号,
所述判定部基于由所述探测部输出的所述探测信号来进行所述磁性体的状态的判定。
3.根据权利要求2所述的磁性体的检查装置,其特征在于,构成为:
所述磁场施加部沿与所述长条构件的长边方向交叉的方向施加磁场,
所述探测部探测由所述长条构件形成的所述磁性体的所述第二方向的磁场或所述第二方向的磁场的变化。
4.根据权利要求3所述的磁性体的检查装置,其特征在于,
所述磁场施加部设置于在所述长条构件延伸的所述第二方向上与所述探测部隔开距离的位置,以避免所输出的磁场影响所述探测部的探测。
5.根据权利要求4所述的磁性体的检查装置,其特征在于,
所述磁场施加部包括:第一磁场施加部,其对由所述长条构件形成的所述磁性体沿所述第一方向施加磁场;以及第二磁场施加部,其设置于在所述第二方向上所述探测部的与靠所述第一磁场施加部的一侧相反的一侧,对由所述长条构件形成的所述磁性体沿着同与所述第二方向交叉的面平行的方向施加磁场。
6.根据权利要求3所述的磁性体的检查装置,其特征在于,
所述探测线圈构成为:探测所述磁性体的所述第二方向的磁场的变化并产生所述探测信号。
7.根据权利要求6所述的磁性体的检查装置,其特征在于,
所述探测线圈包括差动线圈,
所述判定部基于通过所述第二方向的磁场而由所述差动线圈中包括的两个线圈部分产生的各个所述探测信号的大小的差,来判定由所述长条构件形成的所述磁性体的状态。
8.根据权利要求1所述的磁性体的检查装置,其特征在于,
所述判定部构成为:在由所述探测部输出的所述探测信号超过一个规定阈值的情况下,向外部输出表示所述探测信号超过了一个规定阈值的一个阈值信号,或者,在由所述探测部输出的所述探测信号超过多个规定阈值的情况下,向外部输出表示所述探测信号超过了多个规定阈值的多个阈值信号。
9.根据权利要求8所述的磁性体的检查装置,其特征在于,
所述规定阈值包括第一阈值和第二阈值,该第二阈值为比所述第一阈值大的值,
所述判定部构成为:在由所述探测部输出的所述探测信号超过了所述第一阈值的情况下,向外部输出表示所述探测信号超过了所述第一阈值的第一阈值信号,并且在由所述探测部输出的所述探测信号超过了所述第二阈值的情况下,向外部输出表示所述探测信号超过了所述第二阈值的第二阈值信号。
10.根据权利要求1所述的磁性体的检查装置,其特征在于,
所述判定部构成为:对由所述探测部输出的所述探测信号超过了一个或多个规定阈值的次数分别进行计数,并且在计数得到的次数各自超过了规定次数的情况下,向外部输出表示计数得到的次数超过了所述规定次数的信号。
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