[发明专利]用于基于宽度的峰迹线分析的系统、方法和装置有效
| 申请号: | 201780084712.8 | 申请日: | 2017-11-28 | 
| 公开(公告)号: | CN110234990B | 公开(公告)日: | 2022-11-29 | 
| 发明(设计)人: | P·达斯谷普塔;A·F·卡乔;K·斯里尼瓦桑 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯大学系统董事会;戴安公司 | 
| 主分类号: | G01N30/02 | 分类号: | G01N30/02;G01N30/38;G01N30/86 | 
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 钱慰民;张鑫 | 
| 地址: | 美国得*** | 国省代码: | 暂无信息 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 基于 宽度 峰迹线 分析 系统 方法 装置 | ||
1.一种分析物的色谱定量方法,包括:
a)将所述分析物至少以第一浓度、第二浓度、以及然后第三浓度流动到色谱柱中;
b)通过使用色谱检测器检测从所述色谱柱出来的所述第一浓度、所述第二浓度和所述第三浓度下的所述分析物;
c)从所述色谱检测器获得第一、第二和第三信号曲线,所述第一、第二和第三信号曲线分别表示由所述色谱检测器检测到的所述第一、第二和第三浓度下的所述分析物;
d)在多个峰高处测量所述第一、第二和第三信号曲线中的每一个中的峰宽;
e)基于所述第一、第二、第三浓度和针对所述多个峰高中的每一个的所测量的峰宽计算多个校准方程;以及
f)识别提供具有最低误差的所述校准方程的所述多个峰高中的一个,
其中,通过使用基于宽度的定量算法确定所述宽度,所述定量算法包括:其中Wh是所述峰的绝对高度h处的宽度,是hmax/h,hmax是所述峰的峰值振幅,并且p和q是常数。
2.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
g)将样品流动到所述色谱柱中,所述样品包含所述分析物;
h)通过使用所述色谱检测器检测从所述色谱柱出来的所述样品的所述分析物;
i)从所述色谱检测器获得所述样品的信号曲线,所述样品由所述色谱检测器检测;
j)在经识别的峰高处测量所述样品的所述信号曲线中的峰的宽度;以及
k)使用所述计算出的校准方程和所述经识别的峰高确定所述样品的所述分析物的浓度,所述计算出的校准方程具有以下形式:ln C=aWhn+b,其中Wh是所述峰的绝对高度h处的所述宽度,其中C是所述分析物的浓度,并且进一步其中n、a和b是常数。
3.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括抑制器,所述抑制器与所述色谱柱联接,用于接收来自所述色谱柱的输出,其中所述抑制器与所述色谱检测器联接,使得所述色谱检测器检测来自所述抑制器的输出。
4.一种检测色谱中的杂质的方法,包括:
a)将待测样品的分析物流经色谱柱;
b)通过使用色谱检测器检测从所述色谱柱出来的所述分析物的浓度;
c)从所述色谱检测器获得第一信号曲线,所述第一信号曲线表示由所述色谱检测器检测到的所述分析物的所述浓度;
d)测量所述第一信号曲线中峰在第一绝对峰高h1处的第一峰宽Wh1、第二绝对峰高h2处的第二峰宽Wh2、以及第三绝对峰高h3处的第三峰宽Wh3,其中所述第一绝对峰高h1、所述第二绝对峰高h2和所述第三绝对峰高h3是不同的;
e)用包括ln(Wh1/Wh2)/ln(Wh2/Wh3)的公式确定所述第一信号曲线中所述峰的所述样品的峰形指数比;以及
f)识别所述样品中所述杂质的存在,其中所述第一信号曲线中所述峰的所述确定的峰形指数比不同于标准样品的峰形指数比。
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