[发明专利]具有阵列电极的触摸面板的判别控制器和驱动方法在审
申请号: | 201780083961.5 | 申请日: | 2017-12-04 |
公开(公告)号: | CN110199248A | 公开(公告)日: | 2019-09-03 |
发明(设计)人: | 肖恩·托马斯·乔治·马奎尔;迭戈·加拉多 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/044 |
代理公司: | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人: | 权鲜枝 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电极 测量周期 感测电极 驱动电极 触摸面板装置 控制器分配 二维阵列 控制器 互电容 未使用 测量 互电容检测 判别控制器 触摸面板 阵列电极 耦合距离 电耦合 分配 触摸 驱动 图案 配置 | ||
1.一种触摸面板装置,包括:
电极二维阵列,其包括多个电极;和控制器,其电耦合到所述电极二维阵列;
其中第一部分电极可被所述控制器分配为驱动电极或未使用的电极,并且第二部分电极可被所述控制器分配为感测电极或未使用的电极;并且
其中所述控制器被配置为:
在多个测量周期期间分配驱动电极和感测电极,其中所分配的驱动电极和感测电极的图案在不同的测量周期期间是不同的,并且所分配的驱动电极和感测电极在所述多个测量周期期间在多个耦合距离上形成互电容;
在所述测量周期期间测量在所述驱动电极和所述感测电极之间形成的互电容;以及
基于所测量的互电容检测并确定触摸或接近所述触摸面板装置的物体的位置。
2.根据权利要求1所述的触摸面板装置,其中所述触摸面板装置的表面上的任何点至少包括在第一耦合距离上形成的互电容的敏感区域和在不同于所述第一耦合距离的第二耦合距离上形成的互电容的敏感区域中。
3.根据权利要求1或2所述的触摸面板装置,其中所述多个耦合距离包括短耦合距离和长耦合距离。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的触摸面板装置,其中可分配为感测电极的每个电极具有与所述控制器的单独电连接。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的触摸面板装置,其中所述二维阵列中的每个电极具有与所述控制器的单独电连接。
6.根据权利要求5所述的触摸面板装置,其中所述控制器被配置为分配所述驱动电极和所述感测电极,使得在所述多个测量周期的多于一半中,每个感测电极与驱动电极基本上相邻,或者与驱动电极对角相邻,并且没有感测电极与驱动电极基本上和对角相邻。
7.根据权利要求5所述的触摸面板装置,其中所述控制器被配置为分配所述驱动电极和所述感测电极,使得:对于在长耦合距离上形成互耦电容的任何一对驱动电极和感测电极,在第一测量周期期间在第一配置中被分配为感测电极的电极在第二测量周期期间在第二配置中被分配为驱动电极;并且
对于在短耦合距离上形成互耦电容的任何一对驱动电极和感测电极,在所述第一测量周期期间在所述第一配置中被分配为感测电极的电极在所述第二测量周期期间在所述第二配置中被分配为未使用的电极。
8.根据权利要求5-7中任一项所述的触摸面板装置,其中所测量的互电容包括在所述二维阵列的边缘处测量的电容。
9.根据权利要求5-8中任一项所述的触摸面板装置,其中所述二维阵列中不位于所述二维阵列的边缘处的所有电极在恰好两个测量周期中或在恰好零个测量周期中被分配为驱动电极。
10.根据权利要求5所述的触摸面板装置,其中所述多个电极仅在一个方向上叉指。
11.根据权利要求1-10中任一项所述的触摸面板装置,其中所述控制器包括用于测量所述互电容的电流测量单元和复用器,并且所述控制器被配置为控制所述电流测量单元和所述触摸面板电极之间经由所述复用器的连接,以分配所述感测电极;
其中可分配为感测电极的每个电极具有与所述复用器的单独电连接。
12.根据权利要求11所述的触摸面板装置,其中所述二维阵列中的每个电极具有与所述复用器的单独电连接。
13.根据权利要求1-12中任一项所述的触摸面板装置,还包括复用器单元,其中在每个测量周期期间,所述复用器单元将被分配为驱动电极的每个电极连接到驱动电压,并且将被分配为感测电极的每个电极连接到一个或多个感测放大器,并且将被分配为未使用的电极的每个电极连接到地或固定电压。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201780083961.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。