[发明专利]用于检测器的校准、验证和灵敏度检查的系统和方法

说明书

本公开涉及用于检测器的校准、校准验证和灵敏度检查的方法和系统。该方法和系统包括通过从与检测器流动连通的至少一个校准物室释放至少一种校准物来校准检测器。该系统和方法还包括通过从与检测器流动连通的至少一个验证室释放至少一种验证物质来验证该校准。该系统和方法还包括通过从与检测器流动连通的至少一个灵敏度室释放至少一种灵敏度物质来检查检测器的灵敏度。

优先权

本申请要求2016年12月22日提交的相同名称的美国专利申请第15/388,589号的优先权，其全部内容通过引用结合于此。

技术领域

本文描述的实施例大体上涉及检测器校准，且更具体地，涉及对检测器进行的校准、校准验证和灵敏度检查。更具体地，该方法和系统包括通过从与检测器流动连通的校准物室释放校准物来校准检测器。该系统和方法还包括通过从与检测器流动连通的验证室释放验证物质来验证校准。该系统和方法还包括通过从与检测器流动连通的灵敏度室释放灵敏度物质来检查检测器的灵敏度。

背景技术

迁移谱仪根据其漂移时间来测量到达检测器的离子的强度，以表征样品。因为此漂移时间取决于实验条件，例如温度和压力，所以需要在样品分析之前校准检测器的漂移时间轴。当校准检测器时，将绝对漂移时间转换成“校准单位”，使得将所检测离子的峰值位置与库体进行比较。可通过将包含已知验证物质的样品引入检测器，并确认校准单位使得能够精确地表征该已知验证物质，来执行校准的验证。另外，可执行验证检测器配置为检测最小量的物质的灵敏度检查。可通过将包含已知量的已知灵敏度物质的样品引入检测器，并确认检测器检测到该已知灵敏度物质，来执行灵敏度检查。

在至少一些已知系统中，使用外部校准物阱来执行检测器的校准，其中，将校准物通过解吸器引入检测器。然而，这些校准阱的使用寿命有限，会受到污染，并且更换和/或重新填充昂贵。而且，这些带有外部阱的校准过程是劳动密集型的，并且不容易自动化。同样，可分别使用包含验证物质和灵敏度物质的外部阱来执行校准的验证和灵敏度检查。这些外部阱面临相同的上述缺点。

因此，将希望具有一种解决和/或消除这些问题的系统。

发明内容

结合旨在是示例性和说明性的且不限制范围的系统、工具和方法，来描述和说明以下实施例及其方面。本申请公开了许多实施例。

在本公开的一些实施例中，公开了一种用于检测器的内部校准和验证的方法。该方法包括：校准检测器，其中，该校准包括从与检测器流动连通的至少一个校准物室释放至少一种校准物；以及验证该校准，其中，该验证包括从与检测器流动连通的至少一个验证室释放至少一种验证物质。

在本公开的另一实施例中，公开了一种用于检测器的内部校准、验证和灵敏度检查的方法。该方法包括：校准检测器，其中，该校准包括从与检测器流动连通的至少一个校准物室释放至少一种校准物；验证该校准，其中，该验证包括从与检测器流动连通的至少一个验证室释放至少一种验证物质；以及检查检测器的灵敏度，其中，该灵敏度检查包括从与检测器流动连通的至少一个灵敏度室释放至少一种灵敏度物质。

在本公开的又一实施例中，公开了一种用于检测器的内部校准和灵敏度检查的方法。该方法包括：校准检测器，其中，该校准包括从与检测器流动连通的至少一个校准物室释放至少一种校准物；以及检查检测器的灵敏度，其中，该灵敏度检查包括从与检测器流动连通的至少一个灵敏度室释放至少一种灵敏度物质。

在本公开的另一实施例中，公开了一种用于检测器的外部校准、内部验证和内部灵敏度检查的方法。该方法包括：校准检测器；验证该校准；以及检查检测器的灵敏度。该验证包括从与检测器流动连通的至少一个验证室释放至少一种验证物质，并且该灵敏度检查包括从与检测器流动连通的至少一个灵敏度室释放至少一种灵敏度物质。