[发明专利]触摸信号的自动优化

说明书

描述了一种对光学触摸装置进行操作的方法，其中，该光学触摸装置包括面板、多个发射器和相对于所述面板布置的多个检测器，所述多个检测器被配置为接收来自所述多个发射器的光，从而限定在成对的发射器和探测器之间传输的光的检测样本。该光学触控装置还被配置为在环境光评估模式下操作，所述环境光评估模式包括以下步骤：通过使用至少一个检测器在第一积分时间内生成第一组样本以及在第二积分时间内生成第二组样本，并且将滤波器至少应用于第一组样本和第二组样本以生成指示环境光噪声的残余环境光值，其中，所述触摸装置被配置为执行以下步骤：根据所述环境光评估模式进行多次重复操作。

技术领域

本发明涉及一种用于减少由入射的环境光而引起的环境光噪声对光学触摸系统的影响的方法和装置。

背景技术

触摸感测系统(“触摸系统”)广泛用于各种应用中。通常，触摸感测系统通过触摸物体(例如手指或触控笔)与触摸表面直接接触或者通过与触摸表面接近(即，无接触)而致动。触摸感测系统例如用作便携式计算机的触摸板,位于控制面板中，并覆盖在例如手持设备(如移动电话和交互式白板)的显示器上。覆盖在显示器上或集成在显示器中的触摸板也表示为“触摸屏”。许多其他应用是本领域已知的。

WO2010/064983公开了一种基于受抑全内反射(FTIR)的多点触摸系统。光片被耦合至面板中以通过全内反射(TIR)在面板内传播。当物体与面板的触摸表面接触时，传播的光将在触摸点处衰减。光传感器阵列位于触摸表面的周边，以检测每个光片的接收光，并产生穿过所述触摸表面的每个光路的信号值。光传感器的信号值通过相应的参考值归一化并输入至图像重建算法中，该算法产生衰减值在触摸表面上的二维分布。这使得能够当一个或多个用户与触摸表面交互时重复确定触摸的当前位置、大小、形状。在FTIR系统中，触摸需要在干扰的背景下进行检测，例如，来自触摸表面上的指纹和其他类型的涂抹。干涉的影响可能不仅随着时间而变化，而且还会在触摸表面上变化，使得任何时候都难以正确地检测在触摸表面上的触摸。WO2011/028169提出了操纵参考值以对衰减图案中污染的影响进行补偿，WO2011/049512提出了跟踪污染物贡献的二维背景图案并使用背景图案来产生补偿污染的衰减图案。

光学触摸系统通常需要以高灵敏度设计，由于触摸物体可能仅导致传播光的例如小于1％的小衰减。因此，某些系统可以设计成检测0.1％至0.01％的衰减。为了确保适当的触摸检测，WO2011/078769提出了监测信号值的时间可变性以识别触摸系统性能降低的潜在原因(例如，由于组件故障)并实施纠正措施以解决不可靠的信号值。

WO2013/115710描述了处理光学触摸系统的输出信号以生成一组数据样本，该数据样本包括当光信号被发送时的开启能量值和当没有光信号被发送时的关闭能量值。根据所述关闭能量值确定所估计的环境值。通过从每个实际检测线的开启能量值中减去所估计的环境值来生成环境补偿的能量值。然而，该技术仅对未调制的光噪声源(例如太阳光)或用低频调制的光噪声源(例如白炽灯)提供显著的改进。该技术对于诸如荧光照明的调制噪声源提供了不佳的结果。

因此，需要一种在包括各种类型的环境光噪声的环境中改善光学触摸系统性能的方法。

发明内容

本发明的目的是至少部分地克服现有技术的一个或多个限制。