[发明专利]经由纺织品的几何信息项确定处理参数

权利要求书

1.由清洁装置实施的方法，其包括：

-获得表示纺织品(52)的表面的多个点的空间位置的几何信息项，其中所述几何信息项是时间相关的；

-至少部分地基于几何信息项确定用于处理纺织品(52)的至少一个处理参数；和

-输出或触发输出所述至少一个处理参数，

其中确定几何信息项是时间相关的，以时间顺序记录所述纺织品(52)的表面的多个横截面上的点的空间位置，通过利用移动的传感器装置和/或移动的纺织品以时间间隔的方式进行多个确定，从而进行时间相关确定。

2.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述至少一个处理参数是基于确定所述纺织品(52)的表面的面积和/或确定所述纺织品(52)的表面跨越的体积。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述至少一个处理参数指示至少一个清洁参数。

4.根据权利要求3所述的方法，其中所述清洁参数是清洁剂的量。

5.根据权利要求1或2所述的方法，该方法还包括：

-至少部分地基于所述至少一个处理参数对所述纺织品(52)进行清洁处理。

6.根据权利要求1或2所述的方法，该方法还包括：

-确定表示纺织品(52)的表面的多个点的空间位置的几何信息项。

7.根据权利要求6所述的方法，其中确定几何信息项包括向纺织品(52)的表面施加激发。

8.根据权利要求7所述的方法，其中所述激发包括激光束。

9.根据权利要求7所述的方法，其中所述激发具有一维或二维的空间结构。

10.根据权利要求6所述的方法，其中确定几何信息项包括三角测量。

11.根据权利要求1或2所述的方法，由至少一个第一装置和第二装置执行，所述第一装置是根据权利要求12-16中的一项所述的清洁装置，

-其中，在所述第一装置处获得表示纺织品(52)的表面的多个点的空间位置的几何信息项，并将其发送至所述第二装置；

-其中，在所述第二装置上接收表示纺织品(52)的表面的多个点的空间位置的几何信息项；

-其中，至少部分地基于由所述第二装置确定的几何信息项，将用于处理纺织品(52)的至少一个处理参数发送至所述第一装置；和

-其中，在所述第一装置处接收所述至少一个处理参数。

12.用于清洁纺织品(52)的清洁装置，其包括传感器装置(46)，用于确定表示纺织品(52)的表面的多个点的空间位置的几何信息项，其中所述几何信息项是时间相关的，以时间顺序记录所述纺织品(52)的表面的多个横截面上的点的空间位置，通过利用移动的传感器装置和/或移动的纺织品以时间间隔的方式进行多个确定，从而进行时间相关确定。

13.根据权利要求12所述的清洁装置，其中，所述传感器装置(46)包括至少一个立体摄像机(60a、60b)；至少一个线扫描相机；至少一个测距仪；至少一个深度传感器；或其组合。

14.根据权利要求13所述的清洁装置，其中，所述至少一个测距仪是至少一个激光测距仪(48)。

15.根据权利要求13所述的清洁装置，其中，所述至少一个深度传感器是至少一个激光深度传感器(66a、66b)。

16.根据权利要求12至15中任一项所述的清洁装置，其中，所述清洁装置具有用于纺织品的装载开口(36)，并且所述传感器装置(46)和/或激发源布置在所述装载开口(36)处。