[发明专利]脑压测定装置

说明书

本发明涉及一种脑压测定装置，其包括：传感部，用于测定对象体的脑血管内的规定位置的压力；金属线部，与上述传感部相连接，通过向上述对象体插入来使上述传感部位于上述位置；以及脑压测定部，以所测定的上述压力为基础来测定脑压。

技术领域

本发明涉及脑压测定装置。

背景技术

通常，随着社会的高龄化，在家老年人的数字增加，对于老人福利及管理的关心逐渐增加，在多个角度上，通过新的方法开始接近老年人的健康管理，焦点集中在作为健康诊断的基础的血压测定。

随着发育，若完成颅骨缝(cranial suture)的结合，则大脑被坚硬的头骨完全包围。以此限定的头骨空间由大脑实质(约为1400g，80％)、脑脊液(150ml，10％)以及血液(150ml，10％)，若上述三个部分中的一个的容积增加，则其他部分的体积将减少，从而会补偿压力的增加(Mon-ro-Kelli hypothesis)。

但是，若这种补偿作用并不充分，则会导致脑压的持续上升。若脑压上升，则在大脑的血液动力方面来说是阻抗的增加，因此，脑灌注压(cerebral perfusion pressure)将减少，在严重的情况下，将导致缺血性中风。

脑压(intracranial pressure，ICP)的监测为了检测如颅内出血、脑积水或脑瘤的非正常的脑状态而极为重要。至今，脑压的监测通过具有包括感染、出血或脑疝在内的很多危险的不利的侵入方法进行。

图1为用于说明以往的脑压测定装置的多种例的图。参照图1，脑压测定装置可通过脑室造口术(ventriculostomy)测定脑压。脑室造口术为通过长针、导管等贯通头骨、硬膜及大脑来接近大脑的脑室的手术。脑室造口术可以为了患有蛛网膜下腔出血患者而使用，为了向脑室插入导管来检测脑压，仅在脑室变大的情况下限定使用。

并且，脑压测定装置在头骨(skull)贯通孔来插入针刺传感部来检测脑实质内压力。也可以利用硬膜下螺丝(subdural bolt)、硬膜下导管(subdural cathether)来检测脑压。

只是，通过这种方法，通过向脑实质直接插入导管的侵入过程，可发生如脑出血的副作用。

作为本发明的背景的技术揭示在韩国公开专利公报第10-2007-0106004(公开如期：2007年10月31日)号。

发明内容

本发明用于解决上述现有技术的问题，本发明的目的在于，提供适用用于血管造影术的血管接近方法来通过最少侵入测定脑压的脑压测定装置。

并且，本发明的目的在于，提供脑压测定装置，即，利用血管支架形状的脑压测定装置来最大程度接近脑血管内的内壁，从而可以更加准确地测定脑压。

并且，本发明的目的在于，提供脑压测定装置，即，利用具有远端线圈部及近端线圈部的脑压测定装置来阻碍血液的流动并可检测脑血管内的压力。

并且，本发明的目的在于，提供脑压测定装置，即，适用超小型精密机械制作技术(Micro Electro Mechanical Systems，MEMS)来测定脑血管内的压力。

只是，本发明的实施例所要解决的技术问题并不局限于上述技术问题，还可以存在其他技术问题。

作为用于解决上述技术问题的技术方案，根据本发明的一实施例，本发明的脑压测定装置可包括：传感部，用于测定对象体的脑血管内的规定位置的压力；金属线部，与上述传感部相连接，通过向上述对象体插入来使上述传感部位于上述位置；以及脑压测定部，以所测定的上述压力为基础来测定脑压。

根据本发明的一实施例，本发明还可包括血管支架，以两端开放的圆筒型结构向上述脑血管插入，在内侧一区域配置上述传感部，上述金属线部与上述血管支架相连接。